Системы томографические NSI
Номер в ГРСИ РФ: | 86916-22 |
---|---|
Производитель / заявитель: | Фирма "North Star Imaging, Inc.", США |
Системы томографические NSI (далее - системы) предназначены для измерений линейных размеров узлов и деталей, открытой пористости, а также для измерений массовых долей элементов.
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 86916-22 |
Наименование | Системы томографические |
Модель | NSI |
Срок свидетельства (Или заводской номер) | 28.09.2027 |
Производитель / Заявитель
Фирма "North Star Imaging Inc.", США
Поверка
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Зарегистрировано поверок | 2 |
Найдено поверителей | 1 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 2 (100%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Скачать
86916-22: Описание типа СИ | Скачать | 1.1 MБ | |
86916-22: Методика поверки | Скачать | 6.7 MБ |
Описание типа
Назначение
Системы томографические NSI (далее - системы) предназначены для измерений линейных размеров узлов и деталей, открытой пористости, а также для измерений массовых долей элементов.
Описание
Принцип действия основан на измерении геометрических параметров отдельных проекций, регистрируемых на детекторе при прохождении рентгеновского излучения сквозь изделие. Регистрация и считывание текущих проекций происходит при повороте изделия на 360°. Результаты измерений геометрических размеров проекции отображаются на мониторе персонального компьютера. Измерения проводятся в ручном и автоматическом режимах.
Конструктивно системы состоят из защитного свинцового корпуса, предотвращающего проникновение рентгеновского излучения (рентгеновская трубка закрытого и открытого типа), генератора высокого напряжения, детектора, манипулятора для установки и перемещения измеряемого изделия.
Системы выпускаются следующих модификаций: X25, X3000, Х3500, X5000, Х5500, X7000, Х7500, которые отличаются внешним видом, верхним значением ускоряющего напряжения для источника рентгеновского излучения, верхним значением диапазонов увеличений, максимальными размерами области сканирования, габаритными размерами системы, массой, наличием защитной камеры.
Общий вид систем X25, X3000, X3500, X5000, X5500, X7000, X7500 представлены на рисунках 1-4 соответственно.
Каждый экземпляр системы имеет заводской номер, расположенный на табличке на правой боковой стенке системы. Заводской номер имеет цифровой формат и наносится травлением, гравированием, типографским или иным пригодным способом. Нанесение знака поверки на средство измерений не предусмотрено. Нанесение знака утверждения типа на средство измерений не предусмотрено. Место расположения заводского номера представлено на рисунке 5.
Пломбирование систем не предусмотрено. Конструкция систем обеспечивает ограничение доступа к частям систем, несущим первичную измерительную информацию, и местам настройки (регулировки).
Рисунок 1 - Общий вид системы X25
А) Б)
Рисунок 2 - Общий вид системы X3500, X3000: А) без
защитного свинцового корпуса; Б) с защитным свинцовым корпусом
А) Б)
Рисунок 3 - Общий вид системы X5500, X5000: А) без защитного свинцового корпуса; Б) с защитным свинцовым корпусом
А) Б)
Рисунок 4 - Общий вид системы X7500, X7000: А) без защитного свинцового корпуса; Б) с защитным свинцовым корпусом
Рисунок 5 - Место расположения заводского номера
Программное обеспечение
Системы оснащены автономными программными обеспечениями (далее - ПО) efX-и VGStudio МАХ. ПО efX- предназначено для управления системой, отображения измеряемого объекта, отображения результатов измерений, реконструкции 3D модели, а также для сбора, обработки хранения и передачи измерительной информации. ПО efX-поделено на модули, обозначаемые буквенными суффиксами DR, VIEW, CT, EL, DCM.
ПО VGStudio МАХ предназначено для передачи, обработки, регистрации данных и имеет модульную структуру.
Программный пакет устанавливается на персональный компьютер, входящий в комплект поставки систем, и отличается набором дополнительных функций, таких как: модуль анализа пустот/включений, модуль координатных измерений, модуль анализа пеноматериалов/порошков, модуль анализа волокнистых композиционных материалов, модуль цифрового сопоставления объемов, модуль создания объемной сетки, модуль инженерного анализа механических свойств, модуль инженерного анализа транспортных свойств, модуль обратного проектирования, модуль коррекции производственной геометрии, модуль анализа толщины стенок, модуль сравнения измеренных значений с САПР моделью с графическим отображением отклонения формы, а также расширенные возможности работы c измеренными 3D элементами.
Уровень защиты ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «высокий» по Р 50.2.077-2014.
Идентификационные данные ПО систем приведены в таблице 1.
Таблица 1 - Идентификационные данные ПО
Идентификационные данные (признаки) |
Значение | |
Идентификационное наименование ПО |
efX- |
VGStudio МАХ |
Номер версии (идентификационный номер) ПО |
не ниже 2.0* |
не ниже 3.2.3* |
Цифровой идентификатор ПО |
- | |
* - версия ПО может иметь дополнительные буквенные или цифровые суффиксы. |
Технические характеристики
Таблица 2 - Метрологические и основные технические характеристики
Наименование характеристики |
Значение для модификаций | ||||||
X25 |
X3000 |
X3500 |
X5000 |
X5500 |
X7000 |
X7500 | |
Диапазон измерений открытой пористости, % |
от 0,6 до 52 | ||||||
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений открытой пористости, % |
± 0,25 | ||||||
Диапазон измерений длины, мм - по оси Z - в плоскости двух осей (X; Y) |
от 0 до 220 от 0 до 150 |
от 0 до 610 от 0 до 500 |
от 0 до 1220 от 0 до 840 |
от 0 до 1520 от 0 до 1520 | |||
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерении длины1), мкм |
±(6+L/100) | ||||||
Регистрируемые элементы |
от 22 (Ti) до 95 (Am) | ||||||
Чувствительность, кимп/(с^мкА^%), не менее - Cr (на линии Ка) - Mo (на линии Ка) |
0,5 1,0 | ||||||
Предел допускаемого значения относительного среднего квадратического отклонения выходного сигнала2), %: - Cr (на линии Ка) - Mo (на линии Ка) |
0,5 1,0 |
Наименование характеристики |
Значение для модификаций | |||
X25 |
X3000 X3500 |
X5000 X5500 |
X7000 X7500 | |
Пространственное разрешение, не более, нм |
500 |
5000 | ||
Дискретность измерений длины, мкм |
0,1 | |||
Ускоряющее напряжение, кВ |
от 10 до 160 |
от 10 до 240 |
от 10 до 450 | |
Параметры электрического питания: -напряжение переменного тока, В -частота переменного тока, Г ц |
220±22 50/60 | |||
Потребляемая мощность, В А, не более |
4000 | |||
Габаритные размеры, мм, не более - высота - ширина - длина |
1800 960 1860 |
2010 1330 2630 |
2500 2030 2920 |
3480 3300 4850 |
Масса, кг, не более |
1590 |
4300 |
61703) 132004) |
22680 |
Условия эксплуатации: -температура окружающей среды, °С -относительная влажность, %, не более |
от +17 до +25 85 |
1) где L - измеряемая длина, мм;
2) при измерении скорости счета импульсов для стандартного образца стали легированной с аттестованными значениями массовой доли хрома не менее 23,0 % (на линии Ка), молибдена не менее 2,0 % (на линии Ка);
3) стандартная система;
4) для комплектации поставки со всеми опциями.
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом.
Комплектность
Таблица 3 - Комплектность средства измерений
Наименование |
Обозначение |
Количество |
Система томографическая |
X25/ X3000/ X3500/ X5000/ X5500/ X7000/ X7500 |
1 шт. |
Защитный корпус |
1 |
1 шт. |
Рентгеновская трубка для элементного анализа(опция) |
- |
1 шт. |
Наименование |
Обозначение |
Количество |
Детектор для элементного анализа (опция) |
- |
1 шт. |
Персональный компьютер с программным обеспечением efX- |
- |
1 шт. |
Программное обеспечение VGStudio МАХ* |
ПО VGStudio МАХ |
1 шт. |
Руководство по эксплуатации |
РЭ |
1 экз. |
Руководство пользователя ПО efX- |
РП ПО efX- |
1 экз. |
Руководство пользователя ПО VGStudio МАХ |
РП ПО VGStudio МАХ |
1 экз. |
Методика поверки |
- |
1 экз. |
Сведения о методах измерений
приведены в эксплуатационном документе в разделе 5 «Порядок работы».
При использовании в сфере государственного регулирования обеспечения единства измерений измерение массовых долей элементов проводятся в соответствии с аттестованными (стандартизованными) методиками (методами) измерений.
Нормативные документы
Техническая документация фирмы «North Star Imaging Inc.», США, стандарт предприятия «Системы томографические NSI».