88035-23: F40-NIR Система измерения толщины покрытий на кремниевых пластинах и мембранах - Производители, поставщики и поверители

Система измерения толщины покрытий на кремниевых пластинах и мембранах F40-NIR

Номер в ГРСИ РФ: 88035-23
Производитель / заявитель: "Filmetrics. Inc", США
Скачать
88035-23: Описание типа СИ Скачать 573.2 КБ
88035-23: Методика поверки Скачать 5.2 MБ
Нет данных о поставщике
Система измерения толщины покрытий на кремниевых пластинах и мембранах F40-NIR поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Система измерения толщины покрытий на кремниевых пластинах и мембранах F40-NIR (далее - система) предназначена для бесконтактных измерений толщины покрытий, нанесенных на полупроводниковые пластины. Покрытия могут быть выполнены из различных материалов, включая фоторезист, оксиды, нитриды, поликремниевые пленки. Система позволяет также измерять толщину антибликовых и защитных оптических покрытий, покрытий из полиамида и резиста для дисплеев с плоским экраном, различных покрытий, которые используются при производстве CD и DVD дисков.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 88035-23
Наименование Система измерения толщины покрытий на кремниевых пластинах и мембранах
Модель F40-NIR
Срок свидетельства (Или заводской номер) 19Р040
Производитель / Заявитель

"Filmetrics. Inc", США

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Актуальность информации 22.12.2024

Поверители

Скачать

88035-23: Описание типа СИ Скачать 573.2 КБ
88035-23: Методика поверки Скачать 5.2 MБ

Описание типа

Назначение

Система измерения толщины покрытий на кремниевых пластинах и мембранах F40-NIR (далее - система) предназначена для бесконтактных измерений толщины покрытий, нанесенных на полупроводниковые пластины. Покрытия могут быть выполнены из различных материалов, включая фоторезист, оксиды, нитриды, поликремниевые пленки. Система позволяет также измерять толщину антибликовых и защитных оптических покрытий, покрытий из полиамида и резиста для дисплеев с плоским экраном, различных покрытий, которые используются при производстве CD и DVD дисков.

Описание

Система измерения толщины покрытий на кремниевых пластинах и мембранах F40-NIR представлена моделью 260-0130

Принцип действия системы соответствует принципу действий спектральных рефлектометров и основан на измерении спектров отражения при нормальном падении света на измеряемую пластину. Спектральный состав света, прошедшего через тонкое покрытие и отраженного от подложки, зависит от толщины самого покрытия, а также от его оптических постоянных (показателя преломления n и коэффициента поглощения k). Система определяет характеристики тонкого покрытия из измерений интенсивности света, отраженного от подложки и покрытия, в ИК диапазоне излучения. С помощью программного обеспечения (ПО) FILMeasure система анализирует измеренные спектры, сравнивая их с набором рассчитанных спектров отражения, до тех пор, пока отличие между спектрами будет минимальным. Параметры покрытия (толщина и оптические постоянные n, k) расчетного спектра принимаются за результат измерения.

Система состоит из стойки C-Mount с интегрированной видеосистемой, микроскопа с XY столом и оптоволоконным входом, спектрометра, объективов 2x и 10x для SS-Microscope-EXR-1, персонального компьютера и установочного диска с программным обеспечением.

Система монтируется на креплении микроскопа и позволяет проводить измерение на квадратном участке размером 1 микрон.

На системе имеется шильдик с указанием наименования прибора, страны изготовителя, заводского номера. Заводской номер содержит буквенно-цифровое обозначение 19Р040, наносится на шильдик методом цифровой лазерной печати на самоклеящуюся пластиковую пленку и наклеивается на стойку системы.

Общий вид системы и обозначение места нанесения заводского номера представлены на рисунке 1.

Обозначение места нанесения знака поверки представлены на рисунке 2.

Пломбирование системы от несанкционированного доступа не предусмотрено.

Рисунок 1 - Общий вид системы

Место нанесения знака поверки

Рисунок 2 - Обозначение места нанесения знака поверки

Программное обеспечение

Управление процессом измерения в системе осуществляется с помощью ПО FILMeasure. ПО служит для настройки внутренних исполнительных механизмов и измерительных устройств, а также для обеспечения функционирования интерфейса, обработки информации, полученной от измерительных устройств в процессе проведения измерений.

ПО имеет пользовательский интерфейс, ввод данных осуществляется через клавиатуру, на дисплей выводится подробная информация о рассчитанной толщине покрытия, а также дополнительных параметрах, включая, оптические постоянные n и k.

Уровень защиты программного обеспечения «средний» в соответствии с Р 50.2.077-2014.

Идентификационные данные (признаки) ПО указаны в таблице 1.

Таблица 1 - Идентификационные данные программного обеспечения

Идентификационные данные (признаки)

Значение

Идентификационное наименование ПО

FILMeasure

Номер версии (идентификационный номер) ПО, не ниже

8.12.6.0

Цифровой идентификатор ПО

-

Технические характеристики

Таблица 2 - Метрологические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Диапазон измерений толщины покрытий, нм

от 10 до 1000

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений толщины покрытий, нм

±6

Таблица 3 - Основные технические характеристики

Наименование характеристики

Значение

Диапазон показаний толщины покрытий, нм

от 10 до 150000

Диаметр пластин, мм, не более

100

Габаритные размеры, мм, не более:

- длина

436

- ширина

305

- высота

322

Масса, кг, не более

15

Условия эксплуатации:

- температура окружающей среды, °С

от +17 до +35

- относительная влажность воздуха, %, не более

80

- атмосферное давление, кПа

от 70 до 106

Знак утверждения типа

наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

Таблица 4 - Комплектность средства измерений

Наименование

Обозначение

Количество

Система измерения толщины покрытий на кремниевых

пластинах и мембранах:

F40-NIR

1 шт.

- стойка для крепления микроскопа

C-Mount

1 шт.

- микроскоп

_

1 шт.

- спектрометр

_

1 шт.

Оптико-волоконный кабель

-

1 шт.

Объектив 2х для SS-Microscope-EXR-1

_

1 шт.

Объектив 10х для SS-Microscope-EXR-1

_

1 шт.

Калибровочный эталон

TS-Focus-SiO2-4-10000

1 шт.

Персональный компьютер

_

1 шт.

CD-диск с программным обеспечением

FILMeasure

1 шт.

Руководство по эксплуатации

_

1 экз.

Сведения о методах измерений

приведены в эксплуатационном документе Руководство по эксплуатации раздел 3 «Проведение измерений».

Нормативные документы

Техническая документация «Filmetrics. Inc», США.

Смотрите также

88036-23
WG-2+ Шаблоны сварщика
Общество с ограниченной ответственностью Научно-технический центр "Эксперт" (ООО НТЦ "Эксперт"), г. Москва
Шаблоны сварщика WG2+ предназначены для измерений линейно-угловых размеров: смещения кромки, высоты катета углового шва, высоты выпуклости, глубины вогнутости, длины подрезов корня стыкового одностороннего шва кромок, длины притупления кромок, высоты...
88037-23
ПТК-Э Комплексы программно-технические
Публичное акционерное общество "Газпром автоматизация" (ПАО "Газпром автоматизация"), г. Москва
Комплексы программно-технические ПТК-Э (далее — ПТК) предназначены для измерительных преобразований показаний силы и напряжения постоянного тока и сопротивления и для воспроизведения сигналов силы постоянного тока.
88038-23
QC Толщиномеры покрытий
Demeq S.R.L., Аргентина
Толщиномеры покрытий QC (далее - толщиномеры) предназначены для измерений толщины диэлектрических покрытий, нанесенных на магнитные или немагнитные материалы основания.
88039-23
Весы платформенные
PRECIA SA, Франция
Весы платформенные (далее по тексту - весы) предназначены для статических измерений массы груза.
88040-23
BW Ultra Газоанализаторы
Honeywell International Inc., США; Производственные площадки: Ademco De Juarez S. De R.L. de C.V, Мексика; "Honeywell Analytics, Ltd", Великобритания
Г азоанализаторы BW Ultra предназначены для непрерывных автоматических измерений объемной доли диоксида углерода, метана, кислорода и водорода, объемной доли (массовой концентрации) вредных газов и массовой концентрации паров нефтепродуктов, довзрыво...