"Filmetrics. Inc", США

Система измерения толщины покрытий на кремниевых пластинах и мембранах F40-NIR (далее - система) предназначена для бесконтактных измерений толщины покрытий, нанесенных на полупроводниковые пластины. Покрытия могут быть выполнены из различных материал...