Оборудование в госреестре ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Для измерения спектров абсорбции, флуоресценции и резонансного рассеяния, коэффициентов пропускания и оптической плотности жидких и твердых образцов, а также для определения массовой концентрации различных веществ и счетной концентрации дисперсных ча...

Для измерения размеров дисперсных частиц нанометрового и субмикронного размера в жидких средах. Применяется для анализа коллоидных систем. Область применения - научные исследования, в том числе разработка нанотехнологий, анализ проб биологического пр...

Для калибровки эталонных солнечных элементов в стандартных условиях. Область применения: метрологическое обеспечение разработки и производства элементов солнечной энергетики.

Для измерений энергетической освещенности и спектральной плотности энергетической освещенности источников УФ излучения, используемых в технологических процессах в микронаноэлектронике, космической технике, фотохимии, медицине и при диагностике плазмы...

Для измерений в спектральном диапазоне 0,4...1,1 мкм с разбиением на поддиапазоны 0,4...0,52 мкм, 0,52...0,63 мкм, 0,63...0,76 мкм, 0,76...0,9 мкм, 0,9...1,1 мкм яркости, освещенности, энергетической яркости, энергетической освещенности, спектральных...

Для использования в качестве рабочего эталона спектрального коэффициента направленного пропускания при поверке (калибровке) фотометрической шкалы и шкалы длин волн фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007 и МИ 2060-90. Применяе...

Для измерений глубины рельефа поверхности отражающих объектов. Область применения - в машиностроении, приборостроении и лабораториях научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами оценки и измерения параметров микрорельефа поверхности.

Для поверки каналов измерения давления неинвазивных механических измерителей артериального давления (ИАД), служащих для косвенного определения артериального давления путем измерения избыточного давления воздуха в компрессионной манжете в момент появл...

Для передачи размера единицы средней мощности и поверки рабочих средств измерений средней мощности и ослабления в ВОСП на фиксированных длинах волн излучения - длинах волн калибровки. Соответствует рангу рабочего эталона средней мощности и ослабления...

Для использования в качестве рабочего эталона второго разряда в соответствии с "Локальной поверочной схемой для средств измерений вершинной рефракции и призматического действия очковых линз и призм" Р 50.2.055-2007 и обеспечивает передачу размера еди...