Оборудование в госреестре ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Рабочий эталон единицы длины волны для волоконно-оптических систем передачи информации (ВОСП) предназначен для воспроизведения единицы длины волны оптического излучения, калибровки и поверки анализаторов оптического спектра, используемых для контроля...

Наборы мер зональных коэффициентов отражения моделей НМЗО-1 и НМЗО-2 (далее по тексту ╞ наборы мер) предназначены для измерений зональных коэффициентов отражения при поверке химических и медицинских приборов, работающих по принципу измерения коэффици...

Рабочий эталон средней мощности оптического излучения в волоконно-оптических системах передачи (ВОСП) ┌РЭСМ-ВC√ (далее по тексту - РЭСМ-ВС) предназначен для передачи единицы средней мощности оптического излучения, калибровки и поверки рабочих средств...

Рабочий эталон средней мощности оптического излучения в волоконно-оптических системах передачи (ВОСП) ┌РЭСМ-В√ (далее по тексту - РЭСМ-В) предназначен для передачи единицы средней мощности оптического излучения, калибровки и поверки рабочих средств и...

Для воспроизведения и передачи единиц длины и ослабления при поверке и калибровке оптических рефлектометров.

Для измерения размеров дисперсных частиц нанометрового и субмикронного размера в жидких средах.

Для измерения оптических характеристик наноструктурных фотонно-кристаллических волокон для перспективных высокоскоростных волоконно-оптических информационно-телекоммуникационных систем в качестве рабочего средства измерений.

Для измерения энергетической освещенности при определении стабильности и воспроизводимости характеристик многослойных наноструктур, динамики характеристик непосредственно при формировании изделий в условиях вакуума in situ, динамических характеристик...

Для измерения энергетической освещенности при определении пространственной структуры и однородности нанослоев и интерфейсов многослойных наноструктур с использованием относительного углового распределения спектральных коэффициентов зеркального и дифф...

Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.