Оборудование "ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва" в Госреестре РФ (Страница 11)

Оборудование в госреестре ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Наборы мер зональных коэффициентов отражения моделей НМЗО-1 и НМЗО-2 (далее по тексту ╞ наборы мер) предназначены для измерений зональных коэффициентов отражения при поверке химических и медицинских приборов, работающих по принципу измерения коэффици...
Default ALL-Pribors Device Photo
Рабочий эталон средней мощности оптического излучения в волоконно-оптических системах передачи (ВОСП) ┌РЭСМ-ВC√ (далее по тексту - РЭСМ-ВС) предназначен для передачи единицы средней мощности оптического излучения, калибровки и поверки рабочих средств...
Рабочий эталон средней мощности оптического излучения в волоконно-оптических системах передачи (ВОСП) ┌РЭСМ-В√ (далее по тексту - РЭСМ-В) предназначен для передачи единицы средней мощности оптического излучения, калибровки и поверки рабочих средств и...
Для воспроизведения и передачи единиц длины и ослабления при поверке и калибровке оптических рефлектометров.
48292-11
АРН-2 Анализаторы размера частиц
ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерения размеров дисперсных частиц нанометрового и субмикронного размера в жидких средах.
Для измерения оптических характеристик наноструктурных фотонно-кристаллических волокон для перспективных высокоскоростных волоконно-оптических информационно-телекоммуникационных систем в качестве рабочего средства измерений.
48183-11
Аргус-32 Радиометр
ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерения энергетической освещенности при определении стабильности и воспроизводимости характеристик многослойных наноструктур, динамики характеристик непосредственно при формировании изделий в условиях вакуума in situ, динамических характеристик...
48182-11
Аргус-31 Радиометр
ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерения энергетической освещенности при определении пространственной структуры и однородности нанослоев и интерфейсов многослойных наноструктур с использованием относительного углового распределения спектральных коэффициентов зеркального и дифф...
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.
Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.