ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Оборудование в госреестре ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
48901-12
Рабочие эталоны единиц длины и ослабления в световоде
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для воспроизведения и передачи единиц длины и ослабления при поверке и калибровке оптических рефлектометров.
48292-11
АРН-2
Анализаторы размера частиц
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерения размеров дисперсных частиц нанометрового и субмикронного размера в жидких средах.
48287-11
Комплекс метрологический измерения хроматической дисперсии, поляризационной модовой дисперсии и спектрального пропускания в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерения оптических характеристик наноструктурных фотонно-кристаллических волокон для перспективных высокоскоростных волоконно-оптических информационно-телекоммуникационных систем в качестве рабочего средства измерений.
Для измерения энергетической освещенности при определении стабильности и воспроизводимости характеристик многослойных наноструктур, динамики характеристик непосредственно при формировании изделий в условиях вакуума in situ, динамических характеристик...
Для измерения энергетической освещенности при определении пространственной структуры и однородности нанослоев и интерфейсов многослойных наноструктур с использованием относительного углового распределения спектральных коэффициентов зеркального и дифф...
48172-11
МИА-Д
Микроскопы интерференционные автоматизированные
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.
48171-11
МИА-1М
Микроскопы интерференционные автоматизированные
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
48170-11
ИСА-1
Интерферометры световолоконные автоматизированные
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.
48169-11
ПИК-30М
Профилометры интерференционные компьютерные
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерений высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
47691-11
КНС-10.2
Комплекты светофильтров
ФГУП "ВНИИ оптико-физических измерений" (ВНИИОФИ), РОССИЯ, г.Москва
Для измерений спектрального коэффициента направленного пропускания (далее - СКНП) при поверке (калибровке) фотометрической шкалы и шкалы длин волн фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007 и МИ 2060-90.