Оборудование "ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва" в Госреестре РФ (Страница 12)

Оборудование в госреестре ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
Default ALL-Pribors Device Photo
47691-11
КНС-10.2 Комплекты светофильтров
ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для измерений спектрального коэффициента направленного пропускания (далее - СКНП) при поверке (калибровке) фотометрической шкалы и шкалы длин волн фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007 и МИ 2060-90.
47321-11
ОДО-4 Комплекты мер диффузного отражения
ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Для использования в качестве меры спектрального коэффициента диффузного отражения для определения погрешности фотометрической шкалы и проверки шкалы длин волн фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007 и МИ 2060-90.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений следующих параметров линз и призм при поверке наборов пробных очковых линз и призм и скиаскопических линеек: задней вершинной рефракции сферических и цилиндрических (астигматических) линз; призматического действия очковых призм; децентр...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для использования в качестве меры оптической плотности для определения погрешности фотометрической шкалы фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007.
Для измерений амплитудно-временных параметров импульсов напряженности электрического поля с длительностью фронта в наносекундном диапазоне и последующего их преобразования в сигналы, доступные для осциллографической регистрации.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений амплитудно-временных параметров импульсов напряженности электрического поля с длительностью фронта в наносекундном и субнаносекундном диапазоне, включая сверхкороткие электромагнитные импульсы и последующего их преобразования в сигналы,...
Для измерения следующих параметров линз и призм при поверке наборов пробных очковых линз и призм и скиаскопических линеек: задней вершинной рефракции сферических и цилиндрических (астигматических) линз; призматического действия очковых призм; децентр...
Default ALL-Pribors Device Photo
Спецраздел. Для измерений амплитудно-временных параметров импульсных магнитных полей станций безобмоточного размагничивания кораблей. Применяются при электро-радиоизмерениях для проведения исследовательских и испытательных работ.