Оборудование в госреестре ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.

Для измерения показателя преломления жидких и твердых микро- и нанобъектов.

Для измерений высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.

Для измерений спектрального коэффициента направленного пропускания (далее - СКНП) при поверке (калибровке) фотометрической шкалы и шкалы длин волн фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007 и МИ 2060-90.

Для использования в качестве меры спектрального коэффициента диффузного отражения для определения погрешности фотометрической шкалы и проверки шкалы длин волн фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007 и МИ 2060-90.

Для измерений следующих параметров линз и призм при поверке наборов пробных очковых линз и призм и скиаскопических линеек: задней вершинной рефракции сферических и цилиндрических (астигматических) линз; призматического действия очковых призм; децентр...

Для использования в качестве меры оптической плотности для определения погрешности фотометрической шкалы фотометров и спектрофотометров в соответствии с ГОСТ 8.557-2007.

Для измерений амплитудно-временных параметров импульсов напряженности электрического поля с длительностью фронта в наносекундном диапазоне и последующего их преобразования в сигналы, доступные для осциллографической регистрации.

Для измерений амплитудно-временных параметров импульсов напряженности электрического поля с длительностью фронта в наносекундном и субнаносекундном диапазоне, включая сверхкороткие электромагнитные импульсы и последующего их преобразования в сигналы,...

Для измерения следующих параметров линз и призм при поверке наборов пробных очковых линз и призм и скиаскопических линеек: задней вершинной рефракции сферических и цилиндрических (астигматических) линз; призматического действия очковых призм; децентр...