Фирма "Applied Materials, Inc.", США
Статистика
Приборы в Госреестре РФ 1
![Default ALL-Pribors Device Photo](https://all-pribors.ru/pics/medium/default-device.png)
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин), а также при проведении фундаментальных...