Фирма "Applied Materials, Inc.", США
Статистика
Приборы в Госреестре РФ 1
41749-09
NanoSEM-3D
Микроскоп сканирующий электронный
Фирма "Applied Materials, Inc.", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин), а также при проведении фундаментальных...
