Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", Китай
Оборудование в госреестре Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", Китай
79186-20
TT210, TT260, TIME2510, TIME2500, TIME2501, TIME2511, TIME2600
Толщиномеры покрытий
Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", Китай
Толщиномеры покрытий TT210, TT260, TIME2510, TIME2500, TIME2501, TIME2511, TIME2600 (далее - толщиномеры) предназначены для измерений толщины покрытий, как на магнитном, так и на немагнитном основании, без деформации исследуемого объекта.
78553-20
TT100, TT120, ТТ130, TIME2110, TIME2113, TIME2130, TIME2132, TIME2134, TIME2136, TIME2170
Толщиномеры ультразвуковые
Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", Китай
Толщиномеры ультразвуковые TT100, TT120, ТТ130, TIME2110, TIME2113, TIME2130, TIME2132, TIME2134, TIME2136, TIME2170 (далее - толщиномеры) предназначены для измерений толщины изделий из металлов, конструкционных металлических сплавов и неметаллически...
58865-14
TR100, TR200, TR300,TIME 3220
Приборы для измерений параметров шероховатости поверхности
Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", КНР
Приборы для измерений параметров шероховатости поверхности серий TR100, TR200, TR300, TR 3220 (далее приборы) предназначены для измерений параметров шероховатости поверхностей деталей, сечение которых в плоскости измерения представляет прямую линию (...
54492-13
TIME TNS
Машины для испытаний пружин и материалов
Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", КНР
54490-13
TIME JB, TIME XJJ, TIME XJU, TIME XJ, TIME JB-W
Копры маятниковые
Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", КНР
54230-13
TIME WAW, TIME WEW, TIME WES
Машины испытательные универсальные
Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", КНР
54226-13
TIME YAW, TIME YEW, TIME YES
Машины испытательные
Фирма "Beijing TIME High Technology Ltd.", КНР
50938-12
TT210, TT211, TT212, TT220, TT230, TT260, TT270, TT290
Толщиномеры покрытий
Компания "Beijing TIME High Technology Ltd.", КИТАЙ
Толщиномеры покрытий ТТ210, ТТ211, ТТ212, ТТ220, ТТ230, ТТ260, ТТ270, ТТ290 (в дальнейшем ╞ толщиномеры покрытий) предназначены для измерения толщин немагнитного покрытия на магнитном металлическом основании и непроводящего покрытия на немагнитном ме...