Спектрометры Фирма "FEI Company", США

Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов и их элементного состава в материаловедении, микроэлектрони...