Оборудование в госреестре Фирма "FEI Company", США

Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Микроскоп может применяться при проведения научных...

Для измерения линейных размеров объектов, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов. Области применения: биология, физика твердого тела, материаловедение, геология и другие отрасли науки и техники.

Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов и их элементного состава в материаловедении, микроэлектрони...

Для воспроизведения высокостабильных по частоте спектрально чистых синусоидальных сигналов 10 МГц и применяются при проведении высокоточных измерений времени и частоты.

Для измерения массовой доли элементов в жидкостях и твердых телах, для контроля окружающей среды, в биологии, в промышленности и др.

Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.

Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в биологии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.