Оборудование в госреестре Фирма "Photronics MZD GmbH", Германия

Набор мер (фотошаблонов) критических линейных размеров элементов фотошаблонов (далее - меры) предназначен для измерений критических линейных размеров элементов фотошаблонов на установках типа MueTec 2010UV, Leica LWM100UV, LMS IPRO2 и др. в режиме CD...