Оборудование в госреестре Фирма "Thermo Fisher Scientific", США

Хроматограф жидкостный UltiMate 3000 с масс-спектрометрическим детектором TSQ Fortis (далее - хроматограф) предназначен для измерений содержания различных веществ в продуктах питания, пробах почв и воды и других объектах.

Хроматографы жидкостные (ионные) Dionex Easion (далее по тексту -хроматографы) предназначены для измерений содержания компонентов в жидких средах, находящихся в ионной форме (анионов и катионов), а также веществ и соединений, которые могут быть перев...

Масс-спектрометры TSQ (далее - масс-спектрометры) предназначены для измерений содержания широкого спектра веществ в различных пробах.

Комплекты мер толщины TRM-P4-Fe (далее - комплекты) предназначены для воспроизведения значений толщины и используются для поверки и калибровки систем измерения толщины листовых и ленточных материалов.

Газоанализаторы 49i (далее - газоанализаторы) предназначены для автоматических непрерывных измерений массовой концентрации озона в атмосферном воздухе и воздухе рабочей зоны.

Хроматографы ионные Dionex ICS-6000 (далее - хроматографы) предназначены для измерения содержания компонентов ионной природы (анионов и катионов), а также соединений, которые могут быть переведены в ионную форму (кислоты, амины, гидразины, углеводы,...

Хроматограф ионный Dionex ICS-6000 (далее - хроматограф) предназначен для измерения содержания компонентов ионной природы (анионов и катионов), а также соединений, которые могут быть переведены в ионную форму (кислоты, амины, гидразины, углеводы, ами...

Микроскопы электронные просвечивающие Talos F200 (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов, микро- и наночастиц на пленке-подложке, определения параметров кристаллическо...

Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума ест...

Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической...