Оборудование в госреестре ООО "Электростекло", г.Москва

Интерферометры «PhSh» (далее - интерферометры) предназначены для бесконтактных измерений геометрических величин профиля оптических поверхностей и последующего вычисления параметра отклонения от плоскостности оптических поверхностей для производственн...

Микроскопы интерференционные «НаноСкан-01» (далее - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений параметров шероховатости Rmax, Ra по ГОСТ 25142-82 для производственного оптического контроля.

Мера плоская для поверки интерферометров для измерений параметров отклонений от плоскостности (далее по тексту - мера) предназначена для передачи единицы длины в области измерений параметров отклонений от плоскостности и проведения поверки интерфером...

Интерферометры ПИК-ПАС (далее по тексту - интерферометры) предназначены для измерений отклонений от плоскостности оптических поверхностей.

Радиометры комбинированные «ФОТОН-М» предназначены для измерений: спектральной плотности энергетической освещенности; энергетической освещенности, в том числе с разбиением по спектральным поддиапазонам УФ-А, УФ-В, УФ-С; освещенности; яркости; коэффиц...