Оборудование "ООО "Интегрированные Интеллектуальные Системы", Московская область, г. Балашиха" в Госреестре РФ
ООО "Интегрированные Интеллектуальные Системы", Московская область, г. Балашиха

Оборудование в госреестре ООО "Интегрированные Интеллектуальные Системы", Московская область, г. Балашиха

94033-24
IIS Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности
Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха (производственная площадка: Xi’an Wilson Precision Instruments Co., Ltd, Китай)
Приборы для измерений параметров контура и шероховатости поверхности IIS (далее по тексту - приборы) предназначены для измерений профилей различных деталей и (или) параметров шероховатости, а также для определения в измеренных профилях геометрических...
90440-23
IIS Приборы координатно-измерительные
Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха
Приборы координатно-измерительные IIS (далее - приборы) предназначены для измерений линейных размеров деталей различной формы с последующим определением отклонения размеров, формы и взаимного расположения поверхностей элементов деталей.
89127-23
IIS Машины координатно-измерительные
Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "ИИС"), Московская обл., г. Балашиха
Машины координатно-измерительные IIS (далее - КИМ) предназначены для измерений геометрических размеров деталей сложной формы с последующим определением отклонения размеров, формы и взаимного расположения поверхностей элементов деталей.
87008-22
Navi Приборы оптические координатно-измерительные бесконтактные
Общество с ограниченной ответственностью "Интегрированные Интеллектуальные Системы" (ООО "Интегрированные Интеллектуальные Системы"), Московская область, г. Балашиха
Приборы оптические координатно-измерительные бесконтактные Navi (далее - приборы) предназначены для измерений геометрических размеров объектов с поверхностью сложной формы по полученному в процессе сканирования массиву точек или полигонов.