Спектрометры в госреестре

Для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.

Для измерений длины волны и относительной интенсивности рентгеновского излучения в составе растровых электронных микроскопов и электроннозондовых микроанализаторов.

Для измерений тока вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов, в зависимости от отношения массы к заряду вторичных ионов или от времени травления.

Для измерений рамановских спектров и/или спектров люминесценции жидкостей и твердых тел.

Для измерения активности гамма-излучающих радионуклидов, регистрации, накопления, визуализации и обработки энергетических спектров гамма-излучения.

Для измерений активности и удельной активности гамма-излучающих радионуклидов, регистрации, накопления, визуализации и обработки энергетических спектров гамма-излучения.

Для качественного и количественного рентгеновского микроанализа химических элементов в твердых, порошкообразных, смешанных и тонкопленочных образцах.

Для регистрации спектров комбинационного рассеяния твердых и жидких проб различного происхождения и измерения содержания веществ, входящих в состав исследуемых проб на основе полученных спектров.

Для измерений потоков гелия при проведении неразрушающего контроля герметичности, а также для обнаружения мест нарушения герметичности (течей) различных систем и объектов, допускающих откачку внутренней полости или заполнение гелием, либо смесью газо...

Для локального элементный микроанализ состава различных объектов: микроэлектронных плат, произведений искусства, ювелирных изделий, покрытий, пород, почв, порошков, металлов и сплавов, биологических объектов и т.д.