Спектрометры в госреестре

Для локального элементного микроанализа состава различных объектов: микроэлектронных плат, произведений искусства, ювелирных изделий, покрытий, пород, почв, порошков, металлов и сплавов, биологических объектов и т.д.

Для количественного эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов путем формирования и измерения аналитического сигнала, пропорционального интенсивности спектральных линий различных элементов.

Для измерения концентрации химических элементов в металлах и сплавах.

Для измерений линейных размеров образца в условиях тепловых и механических нагрузок (термомеханический анализ) и измерений температуры размягчения, плавления, стеклования различных материалов и оценки модуля упругости (термопластический анализ).

Для измерения массовых долей элементов от бериллия до урана в различных веществах и материалах: металлах, сплавах, порошках, пасте, стружке, геологических породах, цементе и др. в диапазоне измерений 0,001...100,0%.

Для измерения содержания элементов, входящих в состав твердых и жидких веществ, порошков, пленок и материалов по спектрам рентгеновской флуоресценции.

Для измерения содержания элементов, входящих в состав твердых и жидких веществ, порошков, пленок и материалов.

Для количественного химического анализа черных и цветных металлов и сплавов.

Для измерений массы вторичных ионов, возникающих при послойном травлении исследуемого объекта потоком первичных ионов.