Микроскопы измерительные ИМЦЛ 150х50,Б
Номер в ГРСИ РФ: | 10742-86 |
---|---|
Категория: | Микроскопы |
Производитель / заявитель: | АО "Новосибирский приборостроительный завод" (НПЗ), г. Новосибирск |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы измерительные ИМЦЛ 150х50,Б поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения длин и углов в приборо- и машиностроении
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 10742-86 |
Наименование | Микроскопы измерительные |
Модель | ИМЦЛ 150х50,Б |
Технические условия на выпуск | ГОСТ 8074-82 |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 2003 |
Страна-производитель | Россия |
Примечание | Заменен в 2003 г. на 10742-03 |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | - |
Телефон | () |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | нет |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | 11 от 15.10.03 п.5508 от 16.12.86 п.24 |
Производитель / Заявитель
Приборостроительный завод, г.Новосибирск
Россия
630049. Тел. 25-45-42
Поверка
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Зарегистрировано поверок | 852 |
Найдено поверителей | 71 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 813 (95%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 39 (5%) |
Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
Для измерения отпечатка, образуемого на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля
12129-03
ИМЦЛ 100х50,А Микроскопы инструментальные
ОАО "ПО "Новосибирский приборостроительный завод", г.Новосибирск
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...
Предназначен для измерения линейных и угловых размеров. Применение - измерительные лаборатории и цехи предприятий машиностроения, приборостроения, микроэлектроники, лаборатории институтов
Для наведения на штрих меры абсолютных измерений штрихования мер, для наведения на несколько штрихов, находящихся в поле зрения в автоматическом режиме, для измерений отклонений при компарировании штрихованных мер длины