Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100х50, А
| Номер в ГРСИ РФ: | 12129-90 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | АО "Новосибирский приборостроительный завод" (НПЗ), г. Новосибирск |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100х50, А поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Предназначен для измерения линейных и угловых размеров. Применение - измерительные лаборатории и цехи предприятий машиностроения, приборостроения, микроэлектроники, лаборатории институтов
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 12129-90 |
| Наименование | Микроскопы инструментальные |
| Модель | ИМЦЛ 100х50, А |
| Технические условия на выпуск | АЛ2.787.111 ТУ |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2003 |
| Страна-производитель | Россия |
| Примечание | Заменен в 2003 г. на 12129-03 |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 11 от 15.10.03 п.5601 от 23.01.90 п.30 |
Производитель / Заявитель
Приборостроительный завод, г.Новосибирск
Россия
630049. Тел. 25-45-42
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 717 |
| Найдено поверителей | 83 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 683 (95%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 34 (5%) |
| Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
Для наведения на штрих меры абсолютных измерений штрихования мер, для наведения на несколько штрихов, находящихся в поле зрения в автоматическом режиме, для измерений отклонений при компарировании штрихованных мер длины
Разрешен серийный выпуск до 01.01.1988
15684-03
XL, "Quanta" Микроскопы электронные сканирующие
Фирма "FEI Company/ Philips Electron Optics", Нидерланды
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.