Микроскопы фотоэлектрические ФЭМ-3
| Номер в ГРСИ РФ: | 12458-90 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | АО "Новосибирский приборостроительный завод" (НПЗ), г. Новосибирск |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы фотоэлектрические ФЭМ-3 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для наведения на штрих меры абсолютных измерений штрихования мер, для наведения на несколько штрихов, находящихся в поле зрения в автоматическом режиме, для измерений отклонений при компарировании штрихованных мер длины
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 12458-90 |
| Наименование | Микроскопы фотоэлектрические |
| Модель | ФЭМ-3 |
| Технические условия на выпуск | АЛ3.852.040 ТУ |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 1990 |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 07 от 25.09.90 п.41 |
Производитель / Заявитель
Приборостроительный завод, г.Новосибирск
Россия
630049. Тел. 25-45-42
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
Разрешен серийный выпуск до 01.01.1988
15684-03
XL, "Quanta" Микроскопы электронные сканирующие
Фирма "FEI Company/ Philips Electron Optics", Нидерланды
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.
15685-96
CM, EM208 Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма "Philips Electron Optics", Нидерланды
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.