Микроскопы фотоэлектрические ФЭМ-3
Номер в ГРСИ РФ: | 12458-90 |
---|---|
Категория: | Микроскопы |
Производитель / заявитель: | АО "Новосибирский приборостроительный завод" (НПЗ), г. Новосибирск |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы фотоэлектрические ФЭМ-3 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для наведения на штрих меры абсолютных измерений штрихования мер, для наведения на несколько штрихов, находящихся в поле зрения в автоматическом режиме, для измерений отклонений при компарировании штрихованных мер длины
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 12458-90 |
Наименование | Микроскопы фотоэлектрические |
Модель | ФЭМ-3 |
Технические условия на выпуск | АЛ3.852.040 ТУ |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 1990 |
Страна-производитель | Россия |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | - |
Телефон | () |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | . . |
Номер сертификата | нет |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | 07 от 25.09.90 п.41 |
Производитель / Заявитель
Приборостроительный завод, г.Новосибирск
Россия
630049. Тел. 25-45-42
Поверка
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
Разрешен серийный выпуск до 01.01.1988
15684-03
XL, "Quanta" Микроскопы электронные сканирующие
Фирма "FEI Company/ Philips Electron Optics", Нидерланды
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.
15685-96
CM, EM208 Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма "Philips Electron Optics", Нидерланды
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.