Микроанализаторы рентгенофлуоресцентные DX-4i
| Номер в ГРСИ РФ: | 15683-96 |
|---|---|
| Производитель / заявитель: | Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды |
Скачать
| 15683-96: Описание типа СИ | Скачать | 192.3 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроанализаторы рентгенофлуоресцентные DX-4i поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для совместной работы с микроскопами электронными сканирующими (растровыми) для определения массовой концентрации элементов в микрообъемах, применяются в металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности, а также в научных исследованиях.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 15683-96 |
| Наименование | Микроанализаторы рентгенофлуоресцентные |
| Модель | DX-4i |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 1996 |
| Страна-производитель | Нидерланды |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМ |
| Адрес центра | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
| Руководитель центра | Ханов Николай Иванович |
| Телефон | (8*812) 251-76-01 |
| Факс | 113-01-14 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.11.2001 |
| Номер сертификата | и1198 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 13 от 15.10.96 п.32 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Philips Electron Optics", Нидерланды
Нидерланды
Eindhoven, Building AAE, P.O Box 218, 5600 MD
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МУ согласованы ВНИИМ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 15683-96: Описание типа СИ | Скачать | 192.3 КБ |
Смотрите также
15684-03
XL, "Quanta" Микроскопы электронные сканирующие
Фирма "FEI Company/ Philips Electron Optics", Нидерланды
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.
15685-96
CM, EM208 Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма "Philips Electron Optics", Нидерланды
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.
15686-96
DX-95 Спектрометры рентгенофлуоресцентные
Фирма "EDAX International, Inc." (Philips), США, Нидерланды
Для определения массовой концентрации элементов, входящих в состав жидких и твердых сред, порошков, пленок и применяются в научных исследованиях, химической, полупроводниковой, металлургической и других отраслях промышленности.
15687-96
PW 1800, X-PERT APD, X-PERT MPD, X-PERT MRD Дифрактометры
Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды