Микроскопы электронные сканирующие XL, "Quanta"
| Номер в ГРСИ РФ: | 15684-03 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "FEI Company", США |
Скачать
| 15684-03: Описание типа СИ | Скачать | 243.1 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы электронные сканирующие XL, "Quanta" поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов в химии, биологии, металлургии, физике твердого тела, материаловедении, геологии и других отраслях науки и техники.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 15684-03 |
| Наименование | Микроскопы электронные сканирующие |
| Модель | XL, "Quanta" |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2003 |
| Страна-производитель | Нидерланды |
| Примечание | Взамен № 15684-96 |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМ |
| Адрес центра | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
| Руководитель центра | Ханов Николай Иванович |
| Телефон | (8*812) 251-76-01 |
| Факс | 113-01-14 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.02.2008 |
| Номер сертификата | 14015 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 01 от 14.01.03 п.180 |
Производитель / Заявитель
Фирма "FEI Company/ Philips Electron Optics", Нидерланды
Нидерланды
Building AAE, P.O.Box 218, 5600 MD. Eindhover, The Netherlands
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП ВНИИМ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 14 |
| Найдено поверителей | 3 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 14 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 15684-03: Описание типа СИ | Скачать | 243.1 КБ |
Другие Микроскопы
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.
15685-96
CM, EM208 Микроскопы электронные просвечивающие
Фирма "Philips Electron Optics", Нидерланды
Для исследования микроструктуры объектов в условиях заводских лабораторий и научно-исследовательских институтов металлургической, химической, полупроводниковой и других отраслях промышленности.
16591-97
CS44 и MaXim 2000 Микроскопы электронные сканирующие
Фирма "CamScan Analytical", Великобритания
В Госреестре описания нет.
21102-01
TCM 50, TCM 100 и TCM 200 Микроскопы измерительные
Фирма "Brown & Sharpe TESA SA", Швейцария
Для измерения линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольных координатах, для применения в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Для измерения линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольных координатах в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.