Микроскопы измерительные TCM 50, TCM 100 и TCM 200

Назначение

Микроскопы измерительные ТСМ 50, ТСМ 100 и ТСМ 200 предназначены для измерения линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольных координатах.

Область применения ~ измерительные лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.

Описание

Микроскопы настольные окулярные ТСМ 50 и ТСМ 100 и микроскоп бинокулярный ТСМ 200 отличаются диапазонами и погрешностью измерений.

Действие микроскопов основано на оптическом визирном методе, когда перекрестие окуляра или экрана используют как аналог наконечника контактного прибора. При этом перекрестие последовательно наводят на выбранные точки детали и, перемещая последнюю относительно проекционной системы, считывают координаты этих точек, которые затем обрабатываются системным блоком.

Для угловых измерений в микроскопе ТСМ 50 применена окулярная головка с вращающимся перекрестием и встроенной штриховой пластиной с угловой шкалой. В микроскопах ТСМ 100 и ТСМ 200 угловые измерения осуществляются косвенным путем, используя программируемые функции системного блока.

Прибор состоят из двух основных модулей: микроскопа и системного блока.

Микроскоп, в свою очередь, состоит из двух главных частей: оптической части, дающей в окуляре увеличенное изображение измеряемого объекта, и механической части, обеспечивающей точное перемещение.

Благодаря наличию системы призм рассматриваемый предмет наблюдается в окуляр в виде прямого изображения, и все перемещения измеряемого предмета воспринимаются соответственно действительным направлениям перемещений.

Опто-электронная измерительная система фиксирует координаты положения стола и имеет стальные (ТОМ 50 и ТОМ 100) или стеклянные (ТСМ 200) инкрементальные шкалы.

Результаты измерений линейных и угловых размеров выводятся на цифровой дисплей системного блока, на монитор компьютера в цифровом виде и могут быть выведены на принтер. Питание микроскопов осуществляется от сети.

Особенностями приборов является возможность измерения в проходящем и отраженном свете объектов любой формы, выполненных из различных материалов. Освещение может меняться при неподвижном объекте измерений.

Приборы имеют дополнительные осветительные системы Oblique incident light, Oblique incident light unit и Ring light unit, используемые для бокового и кругового освещения, разработанные для исследования объектов, дающих недостаточно контрастное изображение.

Перемещение измерительного стола осуществляется по направляющим на шариковых опорах в ручном и микропроцессорном режимах. Фокусировка осуществляется ручками грубого и точного наведения. Микропроцессорный режим реализуется с клавиатуры компьютера.

Системные блоки А 50 (для ТСМ 50), QUICK-CHEK 1000 (для ТСМ 100) и QUADRA-CHEK 2200 имеют следующие общие возможности:

- позволяют получить результаты измерения в цифровом виде на двух дисплеях для осей X и Y;

- использовать декартовую систему координат;

- выбирать любое положение начальных точек измерения.

Системный блок QUADRA-CHEK 2200 работает как с ТСМ 100, так и с ТСМ 200 и обладает всеми вышеизложенными возможностями, а также следующими дополнительными:

- использованием программируемых функций для основных геометрических элементов таких как точка, прямая линия, окружность, расстояние, углы, выравнивания в горизонтальной плоскости точка;

- формированием измерительных циклов;

- позволяет проводить измерения по высоте (координата Z) микроскопом ТСМ 200 при этом используется дисплей координаты X.

Все это дает возможность измерять большие партии однотипных деталей без точного позиционирования на измерительном столе при их переустановке.

Микроскопы снабжаются следующими принадлежностями, позволяющими существенно расширить область их применения.

Видео система разработана для микроскопов ТОМ 100 и ТОМ 200. Она позволяет получить изображение объекта на экране компьютера, изучать его топографию.

Использование в ТОМ 200 специальной системы для измерения по оси Z, превращает микроскоп в трехкоординатную измерительную машину. Принцип действия этого устройства основан на применении панкратической системы. Соответствующим изменением фокусного расстояния эта система дает возможность измерять размеры элементов детали, расположенные на различной высоте. Изменения фокусного расстояния являются шкалой вертикальной оси Z. Кроме того, предусмотрена модификация для работы как с видеосистемой, так и без нее.

Применение поворотного стола позволяет производить механическое выравнивание деталей.

Кроме того, приборы ТСМ 100 и ТОМ 200 имеют большой выбор взаимозаменяемых объективов с байонетным закреплением, обладающих широким диапазоном линейных увеличений и рабочих отрезков.

Большой выбор крепежных приспособлений расширяет диапазон применения прибора.

Основные технические характеристики

Напряжение питающей сети, В

Частота, Гц

Максимальная масса измеряемого объекта, кг не более

Габаритные размеры, мм

Масса, кг

Условия эксплуатации:

~ температура окружающей среды, °C

5 180x290x42

3

8,2

50-60

10

250x396x55

3

26

30      20

356x540x662

115      140

от 10 до 40

Знак утверждения типа

Знак Утверждения типа наносится документы и на заднюю панель прибора.

на эксплуатационные

Комплектность

Поставляется в комплекте:

- микроскопы измерительные ТСМ 50, или ТСМ 100, или ТОМ 200;

~ руководство по эксплуатации;

~ методика поверки;

~ "системные блоки А 50 или QUICK-CHEK 1000, или QUADRA-СНЕК 2000, или QUADRA-CHEK 2200.

* ~ предлагается по выбору заказчика.

Дополнительно по требованию заказчика:

- специальная система для измерения в Z направлении;

- TESA SPC PRINTER,

- осветительная система Oblique incident light;

- осветительная система Oblique incident light unit;

- осветительная система Ring light unit;

- поворотный стол Rotary table;

- объективы с увеличением 10x, 25x, 50 x, 100x, 200x, 400x, 500x, ЮООх с различными рабочими отрезками;

- Видео система;

- крепежные приспособления: Attachment for SU articulated support, Toggle clamp, P и M clamp for small parts, Clamping chuck, V-block, Try-square.

Поверка

Поверка микроскопов производится в соответствии с Методикой поверки «Микроскопы измерительные ТСМ 50, ТСМ 100 и ТСМ 200. Методика поверки», разработанной и утвержденной ВНИИМС в марте 2001 г. и включенной в комплект поставки прибора.

Основные средства поверки:

меры длины штриховые брусковые по ГОСТ 12060-90,

меры длины концевые плоскопараллельные по ГОСТ 9038-90,

линейки поверочные по ГОСТ 8026-90,

меры плоского угла призматические по ГОСТ 2875-88, угольник поверочный по ГОСТ 3749-77.

Межповерочный интервал ~ 1 год.

Нормативные документы

1 PQQY 3074-82 «Микроскопы инструментальные. Типы, основные параметры и размеры. Технические требования» в части терминологии.

2 . Техническая документация фирмы-изготовителя.

Заключение

Микроскопы измерительные ТСМ 50, ТСМ 100 и ТСМ 200

соответствует требованиям НТД.