Дифрактометры X`Pert PRO MPD/MRD, Cubi`x XRD, DCD II/II H, RD-100
Номер в ГРСИ РФ: | 15687-00 |
---|---|
Категория: | Дифрактометры |
Производитель / заявитель: | Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Дифрактометры X`Pert PRO MPD/MRD, Cubi`x XRD, DCD II/II H, RD-100 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 15687-00 |
Наименование | Дифрактометры |
Модель | X`Pert PRO MPD/MRD, Cubi`x XRD, DCD II/II H, RD-100 |
Срок свидетельства (Или заводской номер) | 01.08.2005 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Philips Analytical B.V.", Нидерланды
Поверка
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Зарегистрировано поверок | 3 |
Найдено поверителей | 2 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 3 (100%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Другие Дифрактометры
15687-07
X`Pert PRO MPD/MRD и Cubi`x XRD Дифрактометры рентгеновские
Фирма "PANalytical B.V.", Нидерланды
Дифрактометры рентгеновские D8 ADVANCE (далее по тексту - дифрактометры) предназначены для измерения параметров кристаллической решетки и исследования твердых веществ методом порошковой дифрактометрии.
Дифрактометры рентгеновские настольные «MiniFlex 600», предназначенные для определения фазового состава кристаллических веществ (далее дифрактометры) на основе измерений распределения интенсивности рентгеновских лучей, отраженных от анализируемого ве...
66006-16
APD 2000 Pro, Explorer, Europe, AreX и StressX Дифрактометры рентгеновские
Фирма "G.N.R. s.r.l.", Италия
Дифрактометры рентгеновские моделей APD 2000 Pro, Explorer, Europe, AreX и StressX предназначены для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на объекте, содержащем кристаллические структуры при решении зад...
Дифрактометр рентгеновский переносной «Уран» предназначен для измерений углов дифракции, возникающих при воздействии сколимированного рентгеновского излучения на анализируемый объект, с целью определения уровня механических напряжений и деформаций в...