Дифрактометры рентгеновские настольные ДРН "Фарад"
| Номер в ГРСИ РФ: | 26598-04 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | ЗАО "НТЦ Экспертцентр", г.Москва |
Скачать
| 26598-04: Описание типа СИ | Скачать | 176.8 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Дифрактометры рентгеновские настольные ДРН "Фарад" поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения углового положения линий дифракционного спектра исследуемого образца на промышленных предприятиях, в научно-исследовательских институтах, геологоразведке, криминалистике, фармакологии, обеспечении учебного процесса в ВУЗах.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 26598-04 |
| Наименование | Дифрактометры рентгеновские настольные |
| Модель | ДРН "Фарад" |
| Модификации | ДРН-01, ДРН-02, ДРН-01Э, ДРН-02Э |
| Технические условия на выпуск | ВМАЮ.412310.001 ТУ |
| Класс СИ | 31.02 |
| Год регистрации | 2004 |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМ |
| Адрес центра | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
| Руководитель центра | Ханов Николай Иванович |
| Телефон | (8*812) 251-76-01 |
| Факс | 113-01-14 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.04.2009 |
| Номер сертификата | 17303 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 04 от 30.03.04 п.43 |
Производитель / Заявитель
ЗАО "НТЦ Экспертцентр", г.Москва
Россия
125315, Ленинградский пр-т, 8, корп.Г, тел. 535-08-77, факс 535-92-31, 535-92-79 (почт.127254, а/я 12), 125190, Ленинградский пр-т, 80, тел. (495) 105-11-79, www.beta.ru, E-mail: expert@beta.ru
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | Приложение А к РЭ ВНИИМ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Скачать
| 26598-04: Описание типа СИ | Скачать | 176.8 КБ |
Другие Дифрактометры
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов в лабораториях промышленных предприятий, научно-ис...
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте, для решения задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...
Для измерения параметров структур высококачественных биологических кристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для пров...
Для измерения параметров структур высококачественных монокристаллов естественного или искусственного происхождения с заданными свойствами и определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов с уточнением положения атомов, для проведения пре...