Микроскоп Checkmaster II WH 825/20
| Номер в ГРСИ РФ: | 27305-04 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Graphische Technik und Handle Heimann GmbH", Германия |
Скачать
| 27305-04: Описание типа СИ | Скачать | 170.6 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскоп Checkmaster II WH 825/20 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для прецизионного измерения ширины и глубины штрихов на Пермской печатной фабрике Гознака.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 27305-04 |
| Наименование | Микроскоп |
| Модель | Checkmaster II WH 825/20 |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2004 |
| Страна-производитель | Германия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ УНИИМ |
| Адрес центра | 620000, г.Екатеринбург, ул.Красноармейская, 4 |
| Руководитель центра | Леонов Владислав Валентинович |
| Телефон | (8*343) 350-26-18 |
| Факс | 350-20-39 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 18154 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 06д от 06.07.04 п.115 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Graphische Technik und Handle Heimann GmbH", Германия
Германия
Pferdekamp 9, D-59075 Hamm, Postfach 4347, D-59039 тел. +49 (0) 2381.9 72 16-0, факс +49 (0) 2381.9 72 16-2, www.heinmann-hamm.de, E-mail: info@heimann-hamm.de
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП 15-233-2004 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 2 |
| Найдено поверителей | 2 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 2 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 27305-04: Описание типа СИ | Скачать | 170.6 КБ |
Другие Микроскопы
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
28664-10
Ntegra SPECTRA, Ntegra PRIMA, Ntegra VITA, Ntegra THERMA, Ntegra AURA, Ntegra MAXIMUS, Ntegra SOLARIS, Ntegra SOLARIS Duo, Ntegra TOMO, Ntegra LIFE Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
28666-10
Solver HV, Solver HV-MFM, Solver SNOM, Smena, Solver PRO, Solver PRO-M, Solver FD, Solver P47-PRO, Solver PRO-EC, Solver MFM, Solver BIO-M, Solver OPEN Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...