28663-05: УП Установки поверочные - Производители, поставщики и поверители

Установки поверочные УП

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 28663-05
Производитель / заявитель: ФГУ "Нижегородский ЦСМ", г.Нижний Новгород
Скачать
28663-05: Описание типа СИ Скачать 171.1 КБ
Нет данных о поставщике
Установки поверочные УП поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для поверки и градуировки расходомеров, счетчиков воды и теплосчетчиков.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 28663-05
Наименование Установки поверочные
Модель УП
Технические условия на выпуск тех.документация ФГУ
Класс СИ 29.01.03
Год регистрации 2005
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИР
Адрес центра 420088, г.Казань, ул.2-я Азинская, 7а
Руководитель центра Иванов Валерий Павлович
Телефон (8*843*2) 72-70-62
Факс 72-00-32
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 19921
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 02 от 10.02.05 п.65
Производитель / Заявитель

ФГУ "Нижегородский ЦСМ", г.Нижний Новгород

 Россия 

603950, ул.Республиканская, 1, тел. (831*2) 35-82-33, 35-52-27, факс 35-67-48, E-mail: ncsmnnov@sinn.ru

Поверка

Методика поверки / информация о поверке РУ. Часть 2.ВНИИР
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 23
Найдено поверителей 3
Успешных поверок (СИ пригодно) 23 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Скачать

28663-05: Описание типа СИ Скачать 171.1 КБ

Смотрите также

Default ALL-Pribors Device Photo
28664-05
Ntegra Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Default ALL-Pribors Device Photo
28665-05
NanoEducator Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...
Default ALL-Pribors Device Photo
28666-05
Solver Pro Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...