Микроскопы сканирующие зондовые Solver Pro

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 28666-05
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Микроскопы сканирующие зондовые Solver Pro поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурныхматериалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

Скачать

28666-05: Описание типа СИ Скачать 229.8 КБ

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 28666-05
Наименование Микроскопы сканирующие зондовые
Модель Solver Pro
Технические условия на выпуск ТУ 4254-003-58699387-2004
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2010
Методика поверки / информация о поверке МП НИЦПВ
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Россия 
Примечание Заменен в 2010 г. на 28666-10
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес центра 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель центра Тодуа Павел Андреевич
Телефон (8*095) 935-97-77
Факс 132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.03.2010
Номер сертификата 19927 аннул
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 01д2 от 18.03.10 п.32602 от 10.02.05 п.66
Производитель / Заявитель

ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва

 Россия 

124482, Зеленоград, кор.100, тел. +7(499) 735-03-05 Факс +7(499) 735-64-10. (124460, Зеленоград, кор.167), E-mail: spm@ntmdt.ru

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
28665-05
NanoEducator Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред, применяют в учебном процессе для изучения основ сканирующей зондовой микроскопии и проведения исследований в области нанотехнологии, микромеханики, физики...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Default ALL-Pribors Device Photo
28664-05
Ntegra Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
Default ALL-Pribors Device Photo
2996-72
БИМ Микроскопы инструментальные бинокулярные
Приборостроительный завод, г.Новосибирск