Микроскопы сканирующие зондовые Solver Pro
| Номер в ГРСИ РФ: | 28666-05 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва |
Скачать
| 28666-05: Описание типа СИ | Скачать | 229.8 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы сканирующие зондовые Solver Pro поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров и генной инженерии, создании наноструктурныхматериалов, запоминающих сред, химии и химической технологии, металлургии, в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 28666-05 |
| Наименование | Микроскопы сканирующие зондовые |
| Модель | Solver Pro |
| Технические условия на выпуск | ТУ 4254-003-58699387-2004 |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2010 |
| Страна-производитель | Россия |
| Примечание | Заменен в 2010 г. на 28666-10 |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ" |
| Адрес центра | 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1 |
| Руководитель центра | Тодуа Павел Андреевич |
| Телефон | (8*095) 935-97-77 |
| Факс | 132-60-13 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.03.2010 |
| Номер сертификата | 19927 аннул |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 01д2 от 18.03.10 п.32602 от 10.02.05 п.66 |
Производитель / Заявитель
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Россия
124482, Зеленоград, кор.100, тел. +7(499) 735-03-05 Факс +7(499) 735-64-10. (124460, Зеленоград, кор.167), E-mail: spm@ntmdt.ru
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП НИЦПВ |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Актуальность информации | 24.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 28666-05: Описание типа СИ | Скачать | 229.8 КБ |
Другие Микроскопы
28666-10
Solver HV, Solver HV-MFM, Solver SNOM, Smena, Solver PRO, Solver PRO-M, Solver FD, Solver P47-PRO, Solver PRO-EC, Solver MFM, Solver BIO-M, Solver OPEN Микроскопы сканирующие зондовые
ЗАО "Нанотехнология МДТ", г.Москва
Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии, микромеханике, фармацевтике и микробиологии, производстве полимеров...
30156-05
РЭМ-106И Микроскопы электронные растровые с системой энергодисперсионного микроанализа
ОАО "SELMI", Украина, г.Сумы
Для измерений линейных размеров элементов топологии и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе и измерений массовой доли элементов в составе объектов методом рентгеновского микроанализа в режимах высокого вакуума и низког...
Для измерений линейных и угловых размеров элементов различных деталей в прямоугольной системе координат в измерительных лабораториях промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
33832-07
VMM Микроскопы измерительные
Фирма "Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG", Германия
Для измерения геометрических параметров: линейных: размеров различных деталей, геометрических параметров микросхем и т.п. в машиностроении, микроэлектронике.