Микроскопы измерительные VMM
Номер в ГРСИ РФ: | 33832-14 |
---|---|
Категория: | Микроскопы |
Производитель / заявитель: | Фирма "Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG", Германия |
33832-14: Описание типа СИ | Скачать | 96.3 КБ |
Для измерения геометрических параметров: линейных: размеров различных деталей, геометрических параметров микросхем и т.п. в машиностроении, микроэлектронике.
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 33832-14 |
Наименование | Микроскопы измерительные |
Модель | VMM |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 2014 |
Страна-производитель | Германия |
Примечание | 22.07.2014 утвержден вместо 33832-07 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | 22.07.2019 |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | C |
Дата протокола | Приказ 1104 п. 07 от 22.07.201401д от 01.02.07 п.46 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG", Германия
Германия
Loherstrasse 7, B-35614 Asslar, Deutschland
Поверка
Методика поверки / информация о поверке | МП ТИнТ 115-2013 |
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Зарегистрировано поверок | 75 |
Найдено поверителей | 13 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 72 (96%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 3 (4%) |
Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Скачать
33832-14: Описание типа СИ | Скачать | 96.3 КБ |
Описание типа
Назначение
Микроскопы измерительные VMM (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей с автоматической регистрацией результатов измерений.
Описание
Принцип действия микроскопов основан на использовании технологии оптического проецирования, с помощью которой изображение объекта, расположенного на измерительном столе, проецируется на оптическую головку микроскопа при различных типах освещения.
Функционально микроскопы состоят из следующих основных узлов: станина со стойкой, тубус с визирным микроскопом со сменными объективами, измерительный стол с оптоэлектронными преобразователями перемещений в продольном и поперечном направлениях, блок обработки результатов измерений с цифровым показывающим устройством.
Для модификаций VMM 150, VMM 200 и VMM 300 может быть установлена система обработки видеоизображений, состоящая из видеокамеры, видеоадаптера и персонального компьютера (ПК) с программным обеспечением (ПО). Система производит обработку результатов измерений и вывод их на экран в цифровой и графической формах.
Система обработки измерений производит обработку результатов измерений и вывод их на экран в цифровой и графической формах. В зависимости от комплектации, она может быть построена либо на персональном компьютере с установленным ПО, либо на блоке обработки измерительной информации со встроенным ПО.
Микроскопы выпускаются в 4-х модификациях, отличающихся конструктивным исполнением и нормированными значениями метрологических характеристик.
Микроскопы поставляются со следующими типами измерительных столов: 100x50 для модификации VMM 100, 150x100 для модификаций VMM 150 и VMM 200, 250x150 для модификации VMM 200, 350x200 и 420x300 для модификации VMM 300.
Внешний вид микроскопов приведен на рисунке 1 (а-г).
а) модификация VMM100
б) модификация VMM 150
Рис. 1. Внешний вид микроскопов измерительных VMM
в) модификация VMM200 г) модификация VMM 300
Рис.1 (продолжение). Внешний вид микроскопов измерительных VMM
Программное обеспечение
Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1.
Таблица 1
Наименование программного обеспечения |
Идентификационное наименование программного обеспечения |
Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения |
Цифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения |
QC100 |
QC100 |
2.162 и выше |
- |
- |
QC200 |
QC200 |
2.17 и выше |
- |
- |
QC200 |
QC200 |
2.183 и выше |
- |
- |
QC200 |
QC200 |
2.191 и выше |
- |
- |
QC300 |
QC300 |
2.24 и выше |
- |
- |
QC5000 |
QC5000 |
2.95 и выше |
95154AAB321D C7084F9DB32D CDC5F1F |
MD5 |
OMS |
OMS40 |
3.15 и выше |
3DB9DF7ACA6 239C63D4CA36 B082A0C5 |
MD5 |
IMS |
IMS50 |
5.13 и выше |
4B1372479A242 9A859BCEEA4 C1DA9CA0 |
MD5 |
Metlogix M2 |
M2 |
1.40.04 и выше |
FABC5FD11184 5C65C8F4979C7 D88376 |
MD5 |
Metlogix M3 |
M3 |
1.40.07 и выше |
64E6597CF26B0 FC876BE0D424 F7B6FC |
MD5 |
Программное обеспечение защищено от несанкционированного доступа паролями различных уровней доступа. Уровень защиты ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «А» по МИ 3286-2010.
Технические характеристики
Диапазоны измерений линейных размеров, мм:
- VMM 100: |
по оси X - 0+100; по |
оси Y - 0+50 |
- VMM 150: |
по оси X - 0+150; по |
оси Y - 0+100 |
- VMM 200: со столом типа 250x150: |
по оси X - 0+250; по |
оси Y - 0+150 |
со столом типа 150x100: |
по оси X - 0+150; по |
оси Y - 0+100 |
- VMM 300: со столом типа 350x200: |
по оси X - 0+350; по |
оси Y - 0+200 |
со столом типа 420x300: |
по оси X - 0+420; по |
оси Y - 0+300 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм (L-измеряемые линейные размеры, мм):
- VMM 100: по осям X и Y ± (2+L/50)
- VMM 150: по осям X и Y ± (1,8+L/200)
- VMM 200: по осям X и Y ± (1,8+L/200)
- VMM 300: по осям X и Y ± (1,8+L/200)
Дискретность отсчёта показаний, мм 0,0001
Диапазон перемещений оптической системы по вертикали, мм, не менее: 150
Габаритные размеры (ширина x длина x высота), мм, не более:
- VMM 100:
- VMM 150:
- VMM 200:
- VMM 300:
250x400x555
250x600x580
360x540x665
580x650x810
Масса, кг, не более:
- VMM 100: |
26 |
- VMM 150: |
30 |
- VMM 200: |
150 |
- VMM 300: |
140 |
Условия эксплуатации:
20 ±1
60 ± 25
- температура, °С
- относительная влажность, %
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа СИ наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом и на шильдик микроскопов методом этикетирования.
Комплектность
1. Основной блок с бинокулярным визирным микроскопом 1 шт.
2. Измерительный стол 1 шт.
3. Блок обработки результатов измерений 1 шт.
4. Комплект ЗИП 1 комплект
5. Система обработки видеоизображений 1 шт.(*)
6. Руководство по эксплуатации «Микроскопы измерительные VMM.
Руководство по эксплуатации» 1 шт.
7. Методика поверки МП ТИнТ 115-2013 «Микроскопы измерительные VMM.
Методика поверки» 1 экз.
* - комплектуется по требованию Заказчика.
Поверка
осуществляется в соответствие с документом МП ТИнТ 115-2013 «Микроскопы измерительные VMM. Методика поверки», утвержденным Руководителем ГЦИ СИ ООО «ТестИнТех» «31» июля 2013 г.
Основные средства поверки:
- мера длины штриховая, диапазон измерений 0-500 мм, разряд 2, класс 1 по ГОСТ 12069-90.
Сведения о методах измерений
Метод измерений изложен в документе «Микроскопы измерительные VMM. Руководство по эксплуатации».
Нормативные документы
1. ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1х10-9 .... 50 м и длин волн в диапазоне 0,2.... 50мкм»;
2. ГОСТ 5639-82 «Стали и сплавы. Методы выявления и определения величины зерна»;
3. Техническая документация фирмы «Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG», Германия.
Рекомендации к применению
- при выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям.
Другие Микроскопы34310-07
ФемтоСкан Микроскопы сканирующие зондовые
ООО НПП "Центр перспективных технологий", г.Москва
Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, а также позволяют визуализировать атомную структуру поверхности изу...
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...
|