Микроскопы измерительные VMM
Номер в ГРСИ РФ: | 33832-14 |
---|---|
Категория: | Микроскопы |
Производитель / заявитель: | Фирма "Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG", Германия |
33832-14: Описание типа СИ | Скачать | 96.3 КБ |
![КтоПоверит](https://all-pribors.ru/images/logo-full-kp-site.png)
Для измерения геометрических параметров: линейных: размеров различных деталей, геометрических параметров микросхем и т.п. в машиностроении, микроэлектронике.
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 33832-14 |
Наименование | Микроскопы измерительные |
Модель | VMM |
Класс СИ | 27.01 |
Год регистрации | 2014 |
Страна-производитель | Германия |
Примечание | 22.07.2014 утвержден вместо 33832-07 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | 22.07.2019 |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | C |
Дата протокола | Приказ 1104 п. 07 от 22.07.201401д от 01.02.07 п.46 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG", Германия
Германия
Loherstrasse 7, B-35614 Asslar, Deutschland
Поверка
Методика поверки / информация о поверке | МП ТИнТ 115-2013 |
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Зарегистрировано поверок | 48 |
Найдено поверителей | 13 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 47 (98%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 1 (2%) |
Актуальность информации | 30.06.2024 |
Поверители
Скачать
33832-14: Описание типа СИ | Скачать | 96.3 КБ |
Описание типа
Назначение
Микроскопы измерительные VMM (далее по тексту - микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей с автоматической регистрацией результатов измерений.
Описание
Принцип действия микроскопов основан на использовании технологии оптического проецирования, с помощью которой изображение объекта, расположенного на измерительном столе, проецируется на оптическую головку микроскопа при различных типах освещения.
Функционально микроскопы состоят из следующих основных узлов: станина со стойкой, тубус с визирным микроскопом со сменными объективами, измерительный стол с оптоэлектронными преобразователями перемещений в продольном и поперечном направлениях, блок обработки результатов измерений с цифровым показывающим устройством.
Для модификаций VMM 150, VMM 200 и VMM 300 может быть установлена система обработки видеоизображений, состоящая из видеокамеры, видеоадаптера и персонального компьютера (ПК) с программным обеспечением (ПО). Система производит обработку результатов измерений и вывод их на экран в цифровой и графической формах.
Система обработки измерений производит обработку результатов измерений и вывод их на экран в цифровой и графической формах. В зависимости от комплектации, она может быть построена либо на персональном компьютере с установленным ПО, либо на блоке обработки измерительной информации со встроенным ПО.
Микроскопы выпускаются в 4-х модификациях, отличающихся конструктивным исполнением и нормированными значениями метрологических характеристик.
Микроскопы поставляются со следующими типами измерительных столов: 100x50 для модификации VMM 100, 150x100 для модификаций VMM 150 и VMM 200, 250x150 для модификации VMM 200, 350x200 и 420x300 для модификации VMM 300.
Внешний вид микроскопов приведен на рисунке 1 (а-г).
![](/images/ot/14//33832-14-1.jpg)
а) модификация VMM100
![](/images/ot/14//33832-14-2.jpg)
б) модификация VMM 150
Рис. 1. Внешний вид микроскопов измерительных VMM
![](/images/ot/14//33832-14-3.jpg)
в) модификация VMM200 г) модификация VMM 300
Рис.1 (продолжение). Внешний вид микроскопов измерительных VMM
Программное обеспечение
Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице 1.
Таблица 1
Наименование программного обеспечения |
Идентификационное наименование программного обеспечения |
Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения |
Цифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма исполняемого кода) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения |
QC100 |
QC100 |
2.162 и выше |
- |
- |
QC200 |
QC200 |
2.17 и выше |
- |
- |
QC200 |
QC200 |
2.183 и выше |
- |
- |
QC200 |
QC200 |
2.191 и выше |
- |
- |
QC300 |
QC300 |
2.24 и выше |
- |
- |
QC5000 |
QC5000 |
2.95 и выше |
95154AAB321D C7084F9DB32D CDC5F1F |
MD5 |
OMS |
OMS40 |
3.15 и выше |
3DB9DF7ACA6 239C63D4CA36 B082A0C5 |
MD5 |
IMS |
IMS50 |
5.13 и выше |
4B1372479A242 9A859BCEEA4 C1DA9CA0 |
MD5 |
Metlogix M2 |
M2 |
1.40.04 и выше |
FABC5FD11184 5C65C8F4979C7 D88376 |
MD5 |
Metlogix M3 |
M3 |
1.40.07 и выше |
64E6597CF26B0 FC876BE0D424 F7B6FC |
MD5 |
Программное обеспечение защищено от несанкционированного доступа паролями различных уровней доступа. Уровень защиты ПО от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «А» по МИ 3286-2010.
Технические характеристики
Диапазоны измерений линейных размеров, мм:
- VMM 100: |
по оси X - 0+100; по |
оси Y - 0+50 |
- VMM 150: |
по оси X - 0+150; по |
оси Y - 0+100 |
- VMM 200: со столом типа 250x150: |
по оси X - 0+250; по |
оси Y - 0+150 |
со столом типа 150x100: |
по оси X - 0+150; по |
оси Y - 0+100 |
- VMM 300: со столом типа 350x200: |
по оси X - 0+350; по |
оси Y - 0+200 |
со столом типа 420x300: |
по оси X - 0+420; по |
оси Y - 0+300 |
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров, мкм (L-измеряемые линейные размеры, мм):
- VMM 100: по осям X и Y ± (2+L/50)
- VMM 150: по осям X и Y ± (1,8+L/200)
- VMM 200: по осям X и Y ± (1,8+L/200)
- VMM 300: по осям X и Y ± (1,8+L/200)
Дискретность отсчёта показаний, мм 0,0001
Диапазон перемещений оптической системы по вертикали, мм, не менее: 150
Габаритные размеры (ширина x длина x высота), мм, не более:
- VMM 100:
- VMM 150:
- VMM 200:
- VMM 300:
250x400x555
250x600x580
360x540x665
580x650x810
Масса, кг, не более:
- VMM 100: |
26 |
- VMM 150: |
30 |
- VMM 200: |
150 |
- VMM 300: |
140 |
Условия эксплуатации:
20 ±1
60 ± 25
- температура, °С
- относительная влажность, %
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа СИ наносится на титульный лист Руководства по эксплуатации типографским способом и на шильдик микроскопов методом этикетирования.
Комплектность
1. Основной блок с бинокулярным визирным микроскопом 1 шт.
2. Измерительный стол 1 шт.
3. Блок обработки результатов измерений 1 шт.
4. Комплект ЗИП 1 комплект
5. Система обработки видеоизображений 1 шт.(*)
6. Руководство по эксплуатации «Микроскопы измерительные VMM.
Руководство по эксплуатации» 1 шт.
7. Методика поверки МП ТИнТ 115-2013 «Микроскопы измерительные VMM.
Методика поверки» 1 экз.
* - комплектуется по требованию Заказчика.
Поверка
осуществляется в соответствие с документом МП ТИнТ 115-2013 «Микроскопы измерительные VMM. Методика поверки», утвержденным Руководителем ГЦИ СИ ООО «ТестИнТех» «31» июля 2013 г.
Основные средства поверки:
- мера длины штриховая, диапазон измерений 0-500 мм, разряд 2, класс 1 по ГОСТ 12069-90.
Сведения о методах измерений
Метод измерений изложен в документе «Микроскопы измерительные VMM. Руководство по эксплуатации».
Нормативные документы
1. ГОСТ Р 8.763-2011 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1х10-9 .... 50 м и длин волн в диапазоне 0,2.... 50мкм»;
2. ГОСТ 5639-82 «Стали и сплавы. Методы выявления и определения величины зерна»;
3. Техническая документация фирмы «Walter Uhl technische Mikroskopie GmbH & Co. KG», Германия.
Рекомендации к применению
- при выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям.
Другие Микроскопы34310-07
ФемтоСкан Микроскопы сканирующие зондовые
ООО НПП "Центр перспективных технологий", г.Москва
Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, а также позволяют визуализировать атомную структуру поверхности изу...
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...
Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и длин); углов изделий; резцов, фрез, кулачков и другого инструмента, радиусных профилей, а также шаблонов любой формы...
|