35858-07: Leica DM IRM Микроскоп исследовательский для тестирования материалов - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп исследовательский для тестирования материалов Leica DM IRM

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 35858-07
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия
Скачать
35858-07: Описание типа СИ Скачать 93.5 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп исследовательский для тестирования материалов Leica DM IRM поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 35858-07
Наименование Микроскоп исследовательский для тестирования материалов
Модель Leica DM IRM
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2007
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ФБУ "Тест-Санкт-Петербург"
Адрес центра 198103, г.С.-Петербург, ул.Курляндская, 1
Руководитель центра Окрепилов Владимир Валентинович
Телефон (8*812) 251-39-50
Факс 251-41-08
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 29293
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 11 от 27.09.07 п.08
Производитель / Заявитель

Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия

 Германия 

Ernst-Leitz-Strasse 17-37, B-35578 Wetzlar, Germany Тел. +49-6441-29-2529; Факс +49-6441-29-2339

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП Тест-Санкт-Петербург
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 3
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 3 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 24.03.2024

Поверители

Скачать

35858-07: Описание типа СИ Скачать 93.5 КБ

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
Сняты без замены. Письмо Укр.ЦСМ 7-13/29 ДСП от 20.01.86
Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...
Default ALL-Pribors Device Photo
39221-08
СмартСПМ-1000 Микроскопы сканирующие зондовые
ООО "АИСТ-НТ", г. Москва, Зеленоград
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.