Микроскоп исследовательский для тестирования материалов Leica DM IRM
| Номер в ГРСИ РФ: | 35858-07 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия |
Скачать
| 35858-07: Описание типа СИ | Скачать | 93.5 КБ |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскоп исследовательский для тестирования материалов Leica DM IRM поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения расстояний, размеров гранул и других деталей структуры, наблюдаемых на изображении при анализе микроструктуры металлов и других материалов.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 35858-07 |
| Наименование | Микроскоп исследовательский для тестирования материалов |
| Модель | Leica DM IRM |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2007 |
| Страна-производитель | Германия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ФБУ "Тест-Санкт-Петербург" |
| Адрес центра | 198103, г.С.-Петербург, ул.Курляндская, 1 |
| Руководитель центра | Окрепилов Владимир Валентинович |
| Телефон | (8*812) 251-39-50 |
| Факс | 251-41-08 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 29293 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 11 от 27.09.07 п.08 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Leica Microsystems Wetzlar GmbH", Германия
Германия
Ernst-Leitz-Strasse 17-37, B-35578 Wetzlar, Germany Тел. +49-6441-29-2529; Факс +49-6441-29-2339
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП Тест-Санкт-Петербург |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Зарегистрировано поверок | 3 |
| Найдено поверителей | 1 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 3 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
| Актуальность информации | 17.11.2024 |
Поверители
Скачать
| 35858-07: Описание типа СИ | Скачать | 93.5 КБ |
Другие Микроскопы
Сняты без замены. Письмо Укр.ЦСМ 7-13/29 ДСП от 20.01.86
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.