Микроскопы универсальные измерительные УИМ-23
| Номер в ГРСИ РФ: | 3705-73 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург |
Микроскопы универсальные измерительные УИМ-23 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 3705-73 |
| Наименование | Микроскопы универсальные измерительные |
| Модель | УИМ-23 |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 1984 |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 94 от 30.05.84 п.09134 от 14.08.73 |
Производитель / Заявитель
ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Россия
194044, ул.Чугунная, 20. Тел.(812) 248-29-15, 248-52-42, факс 542-53-22, 542-18-39, www.lomo.ru, E-mail: sales@lomo.ru
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок | 1838 |
| Найдено поверителей | 144 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 1794 (98%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 44 (2%) |
| Актуальность информации | 23.04.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а...
Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном при сканировании поверхности зондом. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.