Микроскопы универсальные измерительные УИМ-23
| Номер в ГРСИ РФ: | 3705-73 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург |
Поверка
Микроскопы универсальные измерительные УИМ-23 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 3705-73 |
| Наименование | Микроскопы универсальные измерительные |
| Модель | УИМ-23 |
| Код идентификации производства |
ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории
РФ в соответствии с постановлением №719
|
| Характер производства | Серийное |
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | ad7df4a5-8f95-3f26-628a-39ef1f5ae373 |
| Год регистрации | 1984 |
Информация устарела
| Общие данные | |
|---|---|
| Источник информации | 34-75г с.214 |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 1984 |
| Страна-производитель | Россия |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 94 от 30.05.84 п.09134 от 14.08.73 |
Производитель / Заявитель
предприятие п/я А-1705, г. Ленинград
Россия
194044, ул.Чугунная, 20. Тел.(812) 248-29-15, 248-52-42, факс 542-53-22, 542-18-39, www.lomo.ru, E-mail: sales@lomo.ru
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок |
7131
|
| Найдено поверителей | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 6921 (97%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 210 (3 %) |
| Актуальность информации | 21.12.2025 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Микроскопы универсальные измерительные УИМ-23 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Другие Микроскопы
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а...
Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном при сканировании поверхности зондом. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.