3705-73: УИМ-23 Микроскопы универсальные измерительные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы универсальные измерительные УИМ-23

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 3705-73
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург
Заказать
Поставщик: ООО "КОЛБА"
Микроскопы универсальные измерительные УИМ-23 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 3705-73
Наименование Микроскопы универсальные измерительные
Модель УИМ-23
Класс СИ 27.01
Год регистрации 1984
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра -
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата нет
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 94 от 30.05.84 п.09134 от 14.08.73
Производитель / Заявитель

ОАО "ЛОМО", г.С.-Петербург

 Россия 

194044, ул.Чугунная, 20. Тел.(812) 248-29-15, 248-52-42, факс 542-53-22, 542-18-39, www.lomo.ru, E-mail: sales@lomo.ru

Поверка

Межповерочный интервал / Периодичность поверки -
Зарегистрировано поверок 6589
Найдено поверителей 150
Успешных поверок (СИ пригодно) 6400 (97%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 189 (3%)
Актуальность информации 21.11.2024

Поверители

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерений линейных размеров элементов структуры (периода, шага, ширины и высоты ступени) микро-, нанорельефа поверхности исследуемых образцов из разных материалов (проводники, полупроводники, диэлектрики...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабо...
Default ALL-Pribors Device Photo
39221-08
СмартСПМ-1000 Микроскопы сканирующие зондовые
ООО "АИСТ-НТ", г. Москва, Зеленоград
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а...
Default ALL-Pribors Device Photo
39771-08
Dimension 3100 Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Veeco Instruments", США
Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном при сканировании поверхности зондом. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.