Микроскопы видеоизмерительные MM 320

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 39844-08
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Mahr GmbH", Германия

Для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах. Область применения - лаборатории предприятий и научно-исследовательских институтов.

Нужна поверка? Найдите поверителя на сайте www.ktopoverit.ru

Скачать

39844-08: Описание типа СИ Скачать 138.8 КБ

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 39844-08
Наименование Микроскопы видеоизмерительные
Модель MM 320
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2008
Методика поверки / информация о поверке МП ВНИИМС
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Германия 
Примечание 18.09.2013 заменен на 39844-13
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.01.2014
Номер сертификата 34640
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 14д от 25.12.08 п.158
Производитель / Заявитель

Фирма "Mahr Multisensor GmbH", Германия

 Германия 

WENDELSTRASSE 90 66787 WADGASSEN, GERMANY

Другие Микроскопы

39844-13
MM320 Микроскопы видеоизмерительные
Фирма "Mahr Multisensor GmbH", Германия
Для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах. Область применения - лаборатории предприятий и научно-исследовательских институтов.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений линейных размеров деталей структур, наблюдаемых на изображении, сформированном прошедшими через исследуемый объект электронами, а также анализа микро- и наноструктуры объектов в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, ме...
Default ALL-Pribors Device Photo
39771-08
Dimension 3100 Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Veeco Instruments", США
Для измерений линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображении, сформированном при сканировании поверхности зондом. Применяется в материаловедении, микроэлектронике, геологии, биологии, металлургии и других отраслях науки и техники.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для количественного морфологического анализа и измерения линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а...
Default ALL-Pribors Device Photo
39221-08
СмартСПМ-1000 Микроскопы сканирующие зондовые
ООО "АИСТ-НТ", г. Москва, Зеленоград
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с субнано-метровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, могут использоваться при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований.