Микроскопы электронные просвечивающие Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300
| Номер в ГРСИ РФ: | 40981-09 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "FEI Company", США |
| 40981-09: Описание типа СИ | Скачать | 245.4 КБ |
Для измерения линейных размеров объектов, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов. Области применения: биология, физика твердого тела, материаловедение, геология и другие отрасли науки и техники.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 40981-09 |
| Наименование | Микроскопы электронные просвечивающие |
| Модель | Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300 |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2009 |
| Страна-производитель | Нидерланды |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМ |
| Адрес центра | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
| Руководитель центра | Ханов Николай Иванович |
| Телефон | (8*812) 251-76-01 |
| Факс | 113-01-14 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 01.08.2014 |
| Номер сертификата | 35991 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 08д от 16.07.09 п.183 |
Производитель / Заявитель
Фирма "FEI Company", Нидерланды
Нидерланды
Р.О. Вох 80066, 5600 КА, Buidling AAE-III-155 Achtseweg Noord 5, Eindhoven, Тне Netherlands Тел. +31 40 23 56110 факс +31 40 23 56612
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП 2512-0009-2008 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Найдено поверителей | 1 |
| Актуальность информации | 21.04.2024 |
Поверители
Скачать
| 40981-09: Описание типа СИ | Скачать | 245.4 КБ |
Описание типа
Назначение
Микроскопы электронные просвечивающие моделей Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300 (далее - микроскопы) предназначены для измерения линейных размеров объектов, наблюдаемых на изображении и анализа микроструктуры объектов. Области применения: биология, физика твёрдого тела, материаловедение, геология и другие отрасли науки и техники.
Описание
Микроскопы являются автоматизированными многоцелевыми аналитическими приборами, созданными на основе многолинзовой электронно-оптической системы, которые в базовой комплектации обеспечивают:
- получение увеличенных изображений объектов с разрешением, близким к размерам атомов;
- измерение линейных размеров деталей структуры, наблюдаемых на изображениях;
- автоматизированное фотографирование изображений;
- преобразование изображений в цифровую форму с возможностью их регистрации и обработки.
Микроскоп состоит из электронно-оптической колонны, содержащей электронную пушку и три блока электронных линз (осветительный, формирующий изображение и проекционный). Первый из них составлен из двух линз. Основным элементом второго блока является объективная линза, в которую путем шлюзования вводится объектодержатель с объектом. Прецизионное перемещение последнего относительно оптической оси колонны обеспечивается посредством управляемого от рабочей станции электромеханического привода или с помощью манипуляторов вручную. Объективная линза дополнена диафрагмой, положением которой можно управлять. Блок, формирующий изображение, содержит промежуточные линзы, которые позволяют, в частности, получать картины электронной дифракции. Блок проекционных линз обеспечивает требуемое увеличение изображений.
На нижней части колонны установлена камера с флуоресцентным экраном, в которой выполнены окна для наблюдения изображения. Над центральным окном установлен оптический бинокулярный микроскоп, который обеспечивает просмотр фрагментов изображения на экране и фокусировку. Под экраном находится магазин для размещения фотопластинок или пленок, который оснащен устройствами для автоматизированной фотосъемки прямым электронным экспонированием.
Микроскоп может оснащаться следующими объективными линзами Twin, BiO Twin, S-Twin, X-Twin, U-Twin, C-Twin.
Управление работой микроскопов осуществляется с помощью рабочей станции на базе специализированного компьютера, работающего с использованием программного обеспечения в операционной системе Windows.
Толщина объектов, исследуемых методами просвечивающей электронной микроскопии, составляет доли микрометра.
Принцип действия микроскопа основан на том, что электроны, испускаемые катодом, ускоряются электронной пушкой и сводятся в пучок, который дополнительно фокусируется конденсорными линзами и проецируется на объект. В его плоскости диаметр пучка можно варьировать от долей нанометра до десятков микрометров. При прохождении через объект параллельного пучка быстрых электронов происходит их рассеяние на неоднородностях структуры или состава исследуемого объекта. В плоскости изображения объективной линзы, расположенной непосредственно за образцом, формируется действительное изображение объекта, а в её фокальной плоскости формируется дифракционная картина, каждая точка которой соответствует определённому углу выхода электронов из образца. Одним из основных способов получения контраста на изображении является ввод апертурной диафрагмы в фокальную плоскость объективной линзы. При этом вклад в изображение дают только те электроны, которые претерпели рассеяние под углом, определённым фокусным расстоянием и размером апертурной диафрагмы. Чем больше электронов рассеялось в данной точке образца за пределы диафрагмы, тем темнее будет выглядеть эта точка на изображении. Помещая апертурную диафрагму в различные области фокальной плоскости, получают различные виды контраста. Это особенно важно в случае кристаллических образцов, для которых благодаря периодичности структуры возникают сильные неоднородности в распределении интенсивности на дифракционной картине - дифракционные максимумы. Вырезая с помощью апертурной диафрагмы тот или иной максимум, получают дополнительную информацию о структуре объекта.
Технические характеристики
Основные технические характеристики представлены в таблице 1.
Таблица 1
|
ХарактеЛ Модель ристики \исполнение |
Morgagni 268 |
Tecnai G2 |
Titan 80-300 | ||||
|
12, Spirit |
20/F20 |
3O/F3O |
Polara | ||||
|
Разрешающая способность, нм по точкам полиниям |
0,45 0,34 |
0,20 0,14 | |||||
|
Диапазон измерений линейных размеров, нм |
5-1000 | ||||||
|
Диапазон регулировки увеличения, крат |
25200000 |
18650000 |
25700000 |
58800000 |
58800000 |
200 1250000 | |
|
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров, % |
±10 | ||||||
|
Ускоряющее напряжение, кВ |
100 |
120 |
200 |
300 | |||
|
Габаритные размеры, не более, мм |
1700x850 х2350 |
2110x1360x2550 |
2140x1436 x2915 | ||||
|
Масса, не более, кг |
1000 |
1490, 1900 |
2200 |
2500 |
4770 | ||
|
Напряжение сети питания, В |
220 +1Л2 -22 | ||||||
|
Потребляемая мощность, не более, кВ*А |
2,6 |
5,5 |
6,8 |
8,8 |
11,5 | ||
Средний срок службы не менее 10 лет.
Условия эксплуатации представлены в таблице 2.
Таблица 2
|
Параметры |
Модель\исполнение | ||
|
Morgagni 268 |
Tecnai G2 |
Titan 80300 | |
|
12, Spirit 20/F20 30/F30 Polara | |||
|
Диапазон температуры окружающего воздуха, °C (в скобках - рекомендованное значение) |
15-25 (23) |
18-23 (20) | |
|
Относительная влажность при 20°С не более, % |
80 | ||
ЗНАК УТВЕРЖДЕНЫ ТИПА
Знак утверждения типа наносится типографским способом на титульный лист паспорта.
Комплектность
Комплектность поставки приведена в таблице 3.
Таблица 3
|
Базовая комплектация |
- рабочий стол с блоками управляющей электроники с электроннооптической колонной (консоль микроскопа), установленной на плавающей платформе, отделенной от станины пневматическими амортизаторами; - вакуумная система с отдельно расположенным форвакуумным механическим насосом; - стабилизированный источник напряжения; - источники питания линз, встроенные в стойку; - магазин для фотопластинок или пленок; - бинокулярный оптический микроскоп, - компрессор сжатого воздуха для управления пневмоклапанами; - рабочая станция микроскопа на базе специализированного компьютера с дисплеем, клавиатурой и манипулятором «мышь»; - программное обеспечение; - комплект ЗИП и расходных материалов. |
|
Дополнительное оборудование |
- аппаратура цифрового преобразования изображений с целью их записи, обработки и распечатки; - оборудование для реализации растрового режима работы на просвет и отражение; - специализированные объектодержатели (для наклона объектов, а также их нагрева, охлаждения и других воздействий); - система замкнутого водяного охлаждения. |
|
Паспорт | |
|
Методика поверки | |
- поставляется по заказу.
Поверка
Поверка осуществляется в соответствии с документом «Микроскопы электронные просвечивающие моделей Morgagni, Tecnai G2, Titan 80-300. Методика поверки МП 2512-0009-2008», разработанным и утвержденным ГЦИ СИ "ВНИИМ им. Д.И.Менделеева" в декабре 2008 г.
Основные средства поверки: мера штриховая МШ-0,83, ТУ У 33.2-04799336-017-2005, образец монокристаллического графита с межплоскостным расстоянием 0,34 нм (фирма-изготовитель SPI Supplies/Structure Probe, Inc., SPI#02909-AB), образец поликристаллического золота с параметрами решетки 0,204 нм и 0,144 нм (фирма-изготовитель SPI Supplies/Structure Probe, Inc., SPI#02867-AB).
Межповерочный интервал 1 год.
Нормативные документы
Техническая документация фирмы-изготовителя «FEI Company», Нидерланды.
Заключение
Тип микроскопов электронных просвечивающих моделей Morgagni, Tecnai G2, Titan 80300 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, и метрологически обеспечен при ввозе в РФ, в эксплуатации и после ремонта.
Другие Микроскопы
