41696-09: WM1, исп. WM1250, WM1300, WM1400 Микроскопы измерительные - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы измерительные WM1, исп. WM1250, WM1300, WM1400

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 41696-09
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Dr.Heinrich Schneider Messtechnik GmbH", Германия
Скачать
41696-09: Описание типа СИ Скачать 134.9 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскопы измерительные WM1, исп. WM1250, WM1300, WM1400 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения геометрических параметров: линейных и угловых размеров различных деталей и объектов. Область применения - в автомобильной промышленности, в металлообработке, в обработке пластмасс, в авиационной промышленности или в производстве электрических и электронных компонентов.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 41696-09
Наименование Микроскопы измерительные
Модель WM1, исп. WM1250, WM1300, WM1400
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2009
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ООО "Автопрогресс-М" (до 2010 г. МАДИ-Фонд)
Адрес центра 125040, г.Москва, Ленинградский пр-т, 7, стр.1
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.11.2014
Номер сертификата 36638
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 09д от 08.10.09 п.139
Производитель / Заявитель

Фирма "Dr.Heinrich Schneider Messtechnik GmbH", Германия

 Германия 

P.O.Box 100254, D-73702 Esslingen, Reutlinger Strasse, Germany, Rotlay-Mtihle 55545 Bad Kreuznach Germany тел.+49 671 291 02 факс +49 671 291 200 www.dr-schneider.de

Поверка

Методика поверки / информация о поверке раздел в руководстве по эксплуатации ГЦИ СИ "МАДИ-Фонд"
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 235
Найдено поверителей 29
Успешных поверок (СИ пригодно) 232 (99%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 3 (1%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

41696-09: Описание типа СИ Скачать 134.9 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскопы измерительные типа WM1 (далее - микроскопы) предназначены для измерения геометрических параметров: линейных и угловых размеров различных деталей и объектов.

Область применения - в автомобильной промышленности, в металлообработке, в обработке пластмасс, в авиационной промышленности или в производстве электрических и электронных компонентов.

Описание

Принцип действия микроскопа основан на методе оптического видеонаблюдения, с помощью измерительной ПЗС-камеры.

Микроскоп состоит из следующих основных узлов: гранитного основания со стойкой, тубуса с визирным микроскопом со сменными объективами, стола измерительного с оптоэлектронными преобразователями перемещений в продольном и поперечном направлениях и блока обработки результатов измерений с цифровым показывающим устройством. Перемещение стола микроскопа может осуществляться вручную или при помощи ЧПУ. Микроскопы могут иметь в комплекте средство измерения по вертикальной оси. В этом случае устанавливается на вертикальной стойке преобразователь перемещений, сигналы с которого также передаются в блок обработки результатов измерений. Программное обеспечение предназначено: 1) для управления всеми функциями работы микроскопа; 2) для обработки результатов измерений.

Микроскопы измерительные WM1 выпускаются в стандартном исполнении в следующих вариантах:

• WM1 250/300 с ручным управлением, с освещением проходящим и отражённым светом, с измерительным компьютером Multicounty 3000 (МС 3000), диапазон измерения по оси X 250/300 мм

• WM1 250/300/400 CNC, с освещением проходящим и отражённым светом, с измерительным компьютером SAPHIR, диапазон измерения по оси X 250/300/400 мм

• WM1 250/300, с ручным управлением, с освещением проходящим и отражённым светом, с измерительным компьютером SAPHIR, диапазон измерения по оси Х250/300 мм

Технические характеристики

Наименование

Типоразмер

WM1 250

WM1 300

WM1 400

1. Пределы линейных измерений в направлении, мм: оси (X) оси (У) оси (Z)

250

125

200

300

200

200

400

300

200

2. Увеличение объектива

1,5х            Зх            5х

3. Дискретность цифрового устройства, мм

0,001

4. Пределы допускаемой погрешности при измерении, мкм

А1=± (1,5+ L/100), Д2=± (2,9 + L/100 ), Aiz=± (3,9 + L/75 ),где

L - длина в мм, Д1- по одной оси X или Y, Д2- по двум осям X и Y, Дщ- только по оси Z.

5. Габаритные размеры (ширинахглубинах высота), мм

520x650x750

900x950x950

1200x1400x1000

6. Масса,кг

110

140

230

7. Напряжение питающей сети, В

220± 10%

8. Средний срок службы, не менее, лет

5

9. Частота, Гц

50...60

Условия эксплуатации :

- температура окружающей среды (20 ± 1)°С

- относительная влажность воздуха ( 65 ± 15 )%

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносят на специальную табличку на лицевой панели микроскопов измерительных типа WM1, а также на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.

Комплектность

В комплект поставки входит:

Микроскоп измерительный типа WM1

-1 шт.

- 1 шт.

- 1 шт.

- 1 шт.

- 1 шт.

2.

3.

4.

5.

Измерительный стол

Руководство по эксплуатации

Блок обработки с ЧПУ (по заказу)

Устройство измерения размера по вертикали (по заказу)

Поверка

Микроскопы измерительные типа WM1 подлежат поверке в соответствии с методикой поверки, являющейся разделом в руководстве по эксплуатации, разработанной и утвержденной ГЦИ СИ «МАДИ-Фонд»

Основным средством поверки является эталонная штриховая мера (стеклянная) 2-го разряда по МИ 2060-90.

Межповерочный интервал - 1 год.

Нормативные документы

1. Техническая документация фирмы «Dr. Heinrich Schneider Messtechnik GmbH» (Германия)

2. МИ 2060-90 «ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений длины в диапазоне 1*10'6 ... 50 м и длин волн в диапазоне 0,2 ... 50 мкм»

Заключение

Тип «Микроскопы измерительные типа WM1» утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации.

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
41749-09
NanoSEM-3D Микроскоп сканирующий электронный
Фирма "Applied Materials, Inc.", США
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин), а также при проведении фундаментальных...
Default ALL-Pribors Device Photo
42432-09
Philips XL 40 Микроскоп электронный растровый
Фирма "Philips Electronics N.V.", Нидерланды
Для проведения научных и прикладных исследований твердотельных образцов, включая наноструктурированные материалы и нанообъекты. Позволяет проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдотел...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения массовых долей элементов в микрообъеме различных материалов: металлов, сплавов, порошков, стружек, геологических пород и т. д., в диапазоне измерений 0,2...100,0 %. Может анализировать любой материал, не разрушающийся в вакууме, измеряя...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.