Микроскопы измерительные WM1, исп. WM1250, WM1300, WM1400

Для измерения геометрических параметров: линейных и угловых размеров различных деталей и объектов. Область применения - в автомобильной промышленности, в металлообработке, в обработке пластмасс, в авиационной промышленности или в производстве электрических и электронных компонентов.

Скачать

41696-09: Описание типа СИ Скачать 134.9 КБ

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 41696-09
Наименование Микроскопы измерительные
Модель WM1, исп. WM1250, WM1300, WM1400
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2009
Методика поверки / информация о поверке раздел в руководстве по эксплуатации ГЦИ СИ "МАДИ-Фонд"
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ООО "Автопрогресс-М" (до 2010 г. МАДИ-Фонд)
Адрес центра 125040, г.Москва, Ленинградский пр-т, 7, стр.1
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.11.2014
Номер сертификата 36638
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 09д от 08.10.09 п.139
Производитель / Заявитель

Фирма "Dr.Heinrich Schneider Messtechnik GmbH", Германия

 Германия 

P.O.Box 100254, D-73702 Esslingen, Reutlinger Strasse, Germany, Rotlay-Mtihle 55545 Bad Kreuznach Germany тел.+49 671 291 02 факс +49 671 291 200 www.dr-schneider.de

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
41675-09
НаноСкан-3Д Микроскопы сканирующие зондовые
ФГБНУ "ТИСНУМ", г. Москва, г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением, измерений силы воздействия зонда на поверхность исследуемого образца в отдельных точках, для измерения геометрических характеристик отпечатков...
Default ALL-Pribors Device Photo
41749-09
NanoSEM-3D Микроскоп сканирующий электронный
Фирма "Applied Materials, Inc.", США
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Для контроля параметров топографии в плоскости XY при производстве изделий микроэлектроники (пластин), а также при проведении фундаментальных...
Default ALL-Pribors Device Photo
41600-09
Motic B1-223ASC Микроскоп оптический
Фирма "BBT" Sp.z.o.o. Польша
Для измерения количества и размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел в соответствии с ГОСТ ИСО 4407-2006 "Определение загрязненности жидкости методом счета частиц под микроскопом". Область применения: контроль промышл...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для прецизионного измерения наружных и внутренних линейных размеров и диаметров изделий до 25 мм. Область применения: предприятие ОАО "Сибнефть-ОНПЗ".