Микроскопы инструментальные с цифровым отсчетом БМИ-1Ц
| Номер в ГРСИ РФ: | 4184-74 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | - |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Микроскопы инструментальные с цифровым отсчетом БМИ-1Ц поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 4184-74 |
| Наименование | Микроскопы инструментальные с цифровым отсчетом |
| Модель | БМИ-1Ц |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 1983 |
| Страна-производитель | СССР |
| Примечание | Исключен в 1983 г. |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 1983 |
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок | 2033 |
| Найдено поверителей | 114 |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 1962 (97%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 71 (3%) |
| Актуальность информации | 22.11.2024 |
Поверители
Другие Микроскопы
Для проведения научных и прикладных исследований твердотельных образцов, включая наноструктурированные материалы и нанообъекты. Позволяет проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдотел...
44365-10
Noran System SIX (микроанализатор) JSM-5400 (микроскоп) Микроанализатор рентгеновский энергодисперсионный в составе электронного микроскопа
Фирма "Thermo Electron Corporation", США
Для измерения массовых долей элементов в микрообъеме различных материалов: металлов, сплавов, порошков, стружек, геологических пород и т. д., в диапазоне измерений 0,2...100,0 %. Может анализировать любой материал, не разрушающийся в вакууме, измеряя...
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Для измерений глубины рельефа поверхности отражающих объектов. Область применения - в машиностроении, приборостроении и лабораториях научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами оценки и измерения параметров микрорельефа поверхности.
44714-10
Zygo NewView 6200 Микроскоп сканирующий интерференционный белого света
Фирма "Zygo Corporation", США
Универсальный (многоцелевой) прибор для трёхмерного анализа микрорельефа отражающей поверхности, создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта. Область...