42432-09: Philips XL 40 Микроскоп электронный растровый - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп электронный растровый Philips XL 40

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 42432-09
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Philips Analytical X-Ray B.V.", Нидерланды
Скачать
42432-09: Описание типа СИ Скачать 136.1 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп электронный растровый Philips XL 40 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для проведения научных и прикладных исследований твердотельных образцов, включая наноструктурированные материалы и нанообъекты. Позволяет проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдотельных структур. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 42432-09
Наименование Микроскоп электронный растровый
Модель Philips XL 40
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2009
Страна-производитель  Нидерланды 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес центра 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель центра Тодуа Павел Андреевич
Телефон (8*095) 935-97-77
Факс 132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 37477
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 12д от 10.12.09 п.14
Производитель / Заявитель

Фирма "Philips Electronics N.V.", Нидерланды

 Нидерланды 

Europe nanoport achtseweg noord 5 bldg 5651 gg, Eindhoven, The Netherlands

Поверка

Методика поверки / информация о поверке ГОСТ Р 8.631-07
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 1
Найдено поверителей 2
Успешных поверок (СИ пригодно) 1 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 24.03.2024

Поверители

Скачать

42432-09: Описание типа СИ Скачать 136.1 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп электронный растровый Philips XL 40 (далее- микроскоп) предназначен для проведения научных и прикладных исследований твердотельных образцов, включая наноструктурированные материалы и нанообъекты. Прибор позволяет проводить количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдотельных структур.

Микроскоп применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, медицине, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организаций.

Описание

Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную измерительную систему, работающую в диапазоне микро- и наноразмеров.

Микроскоп состоит из электронно-оптической системы (колонны), камеры образцов с механизмом их перемещения, детектора вторичных электронов, вакуумной системы, видеоконтрольного устройства, блока электроники.

Вакуумная система включает в себя диффузионный и форвакуумный насосы для откачки рабочей камеры микроскопа и гетероионный насос для обеспечения вакуума в катодном узле и электронной колонне.

Принцип получения изображения в микроскопе заключается в модуляции яркости монитора видеоконтрольного устройства сигналами, пропорциональными числу зарегистрированных вторичных электронов, при сканировании сфокусированного электронного зонда по поверхности объекта. Отношение размера изображения на мониторе к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.

Технические характеристики

Параметры

Значение

Диапазон регулировки увеличения, крат

20-200000

Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 30 кВ, нм, не более

32

Диапазон измерения линейных размеров, мкм

0,1-10000

Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров, %

±5

Источник электронов

катод из гексаборида лантана LaBe

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ

1-30

Разрешение при ускоряющем напряжении 30 кВ, нм

3,5

Напряжение питания переменного тока, В

ZZU    -15%

Максимальная потребляемая мощность, кВт

4,7

Общая масса, кг

1000

Габаритные размеры в собранном виде, mmj

2770x900x1900

Рабочие условия эксплуатации:

• температура воздуха в помещении, °C

• уровень стабильности температурного режима, °C /ч

• влажность, %

20±3

< 1

<95

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится в виде наклейки на корпус микроскопа и на титульный лист руководства по эксплуатации.

Комплектность

В комплект микроскопа входят: микроскоп электронный растровый Philips XL 40, комплект ЗИП и расходные материалы, руководство по эксплуатации.

Поверка

Поверка микроскопа электронного растрового Philips XL 40 проводится по ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки». Средство поверки - мера ширины и периода специальная МШПС-2.ОК, изготовленная по ГОСТ Р 8.628-2007 «Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления» и поверенная по ГОСТ Р 8.629-2007 «Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки».

Межповерочный интервал -1 год.

Нормативные документы

1. ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки».

2. ГОСТ Р 8.628-2007 «Меры рельефные нанометрового диапазона из монокристаллического кремния. Требования к геометрическим формам, линейным размерам и выбору материала для изготовления»

3. ГОСТ Р 8.629-2007 «Меры рельефные нанометрового диапазона с трапецеидальным профилем элементов. Методика поверки»

Заключение

Тип микроскопа растрового электронного Philips XL 40, заводской номер D646, утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведёнными в настоящем описании типа, и метрологически обеспечен в эксплуатации.

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения массовых долей элементов в микрообъеме различных материалов: металлов, сплавов, порошков, стружек, геологических пород и т. д., в диапазоне измерений 0,2...100,0 %. Может анализировать любой материал, не разрушающийся в вакууме, измеряя...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений глубины рельефа поверхности отражающих объектов. Область применения - в машиностроении, приборостроении и лабораториях научно-исследовательских институтов, занимающихся вопросами оценки и измерения параметров микрорельефа поверхности.
Default ALL-Pribors Device Photo
Универсальный (многоцелевой) прибор для трёхмерного анализа микрорельефа отражающей поверхности, создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта. Область...
Default ALL-Pribors Device Photo
44846-10
Z200 Микроскопы измерительные универсальные
ООО "МЦ "Мастер-Сервис", г.С.-Петербург
Для измерений линейных и угловых размеров различных изделий (резьбовых изделий, режущего инструмента, профильных шаблонов, лекал, кулачков, конусов, метчиков, резьбонарезных гребенок, диаметров сквозных отверстий и др) в прямоугольных и полярных коор...