44714-10: Zygo NewView 6200 Микроскоп сканирующий интерференционный белого света - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп сканирующий интерференционный белого света Zygo NewView 6200

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 44714-10
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Zygo Corporation", США
Скачать
44714-10: Описание типа СИ Скачать 242.6 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп сканирующий интерференционный белого света Zygo NewView 6200 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Универсальный (многоцелевой) прибор для трёхмерного анализа микрорельефа отражающей поверхности, создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта. Область применения - научно-исследовательские институты, оптическое приборостроение и микроэлектроника.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 44714-10
Наименование Микроскоп сканирующий интерференционный белого света
Модель Zygo NewView 6200
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2010
Страна-производитель  США 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 40263
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 03д от 29.07.10 п.75
Производитель / Заявитель

Фирма "Zygo Corporation", США

 США 

Laurel Brook Road P.O. Box 448 Middlefield, Connecticut 06455 тел. (860) 347-8506

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП ВНИИМС
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 2
Найдено поверителей 1
Успешных поверок (СИ пригодно) 2 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

44714-10: Описание типа СИ Скачать 242.6 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп сканирующий интерференционный белого света NewView 6200 (далее - микроскоп) - это универсальный (многоцелевой) прибор для трёхмерного анализа микрорельефа отражающей поверхности, создаёт графические изображения и проводит их цифровой анализ с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта.

Область применения - научно-исследовательские институты, оптическое приборостроение и микроэлектроника.

Описание

Принцип действия микроскопа основан на способности световых колебаний отражаться от поверхности среды, имеющей отличный от воздуха показатель преломления и интерференции отраженных от поверхности исследуемого объекта и опорного зеркала световых колебаний. Прибор использует сканирующую (по оси Z) интерферометрию белого света для получения изображений и определения микроструктуры и топографии поверхности. Сканирование осуществляется с помощью шагового двигателя при большом изменении высоты (до 15 мм) и с помощью дискретного пьезоманипулятора при изменении высоты в пределах 150 мкм. Свет от излучателя микроскопа делится внутри интерферометрического объектива на два пучка: опорный и тестовый. Тестовый пучок направляется на исследуемую поверхность, отражается от неё и внутри объектива интерферирует с опорным пучком. При вертикальном сканировании изменяется расстояние между интерференционным объективом и исследуемым участком поверхности. На определённом удалении объектива от поверхности оптическая разность хода между опорным и тестовым пучками обращается в нуль, и выполняется условие максимума, причём для всех длин волн, входящих в спектр излучения излучателя микроскопа. Для этой высоты с помощью ПЗС-камеры формируется изображение, на котором максимальную интенсивность будут иметь точки поверхности, находящиеся на этой высоте. При дальнейшем изменении высо-

об утверждении типа средств измерений                            Всего листов 4

ты условие максимума будет выполняться уже для других точек поверхности. Сформированный таким образом массив данных преобразуется с помощью программного обеспечения MetroPro в топограмму поверхности.

В приборе используются интерферометрические объективы, реализующие схему интерферометра Миро (объективы с увеличением 100х, 50х, 20х и Юх) и схему интерферометра Майкельсона (объективы с увеличением 5х и 1х).

Технические характеристики

Наименование характеристики

Значение характеристики

Средняя длина волны оптического излучения, нм

550

Ширина спектра оптического излучения, нм

125

Длина когерентности оптического излучения, мкм

2,9

Диапазон измерения относительной высоты, мкм1

0+150

Расширенный диапазон измерения относительной высоты, мм2

0,1+15

Предел вертикального разрешения (шагового двигателя), мкм

<0,1

Скорость сканирования, мкм/с

до 7

Линейное поле зрения, мм2 для объектива с увеличением:

5,2 х 7,0

1,05 х 1,4

Юх

0,52 х 0,70

20х

0,26 х 0,35

50х

0,1 х 0,14

прим.: может быть увеличено в режиме сшивки

Количество элементов изображения (формат ПЗС-матрицы)

640x480

Характеристики тестовых пластинок

- максимальные размеры (В х Ш хД), мм

89x203x203

- коэффициент отражения поверхности, %

1+100

- материал поверхности

непрозрачный, прозрачный, с покрытием, без покрытия

Рабочие условия эксплуатации:

- температура окружающего воздуха, °C

15-30

- стабильность температуры, °C/15 мин

<1

- относительная влажность воздуха, %

5+95

Давление воздуха в системе виброизоляции, бар

4,1-5,5

Питание от сети общего назначения

- номинальное напряжение, В

100+240

- частота, Гц

50/60

Потребляемая мощность, кВт, не более

1,2

Масса микроскопа, кг, не более

430

Габаритные размеры (В х Ш хД), мм, не более

157x132x89

1 Сканирование пьезоманипулятором

2 Сканирование шаговым двигателем

Приложение к свидетельству №                       Лист 3

об утверждении типа средств измерений                            Всего листов 4

Площадь, занимаемая микроскопом, м2, не более

4

Средний срок службы, лет, не менее

10

Метрологические характеристики:

Диапазон измерений относительной высоты неровности, мкм

0-2

Предел разрешения, нм

<0,2

Расширенная неопределённость измерения относительной высоты h, нм, не более,

в интервале 0-20 нм

(0,2 +0,065h)

в интервале 20-180 нм

( 1,5 + 0,0063(h-20))

в интервале 80 нм - 2 мкм

(2,5 + 0,0094(h-180))

Повторяемость измерений относительной высоты двух плоскостей, не хуже, нм

в интервале 0-20 нм

0,1

в интервале 20-180 нм

0,2

в интервале 180 нм - 2 мкм

1

Диапазон измерения поперечных размеров, мкм

1 - 7000

Расширенная неопределённость измерения поперечных размеров, мкм, не более при увеличении объектива

бмкм

Змкм

Юх

±2мкм

20х

±1,5мкм

5 Ох

±0,7мкм

Комплектность

№ п/п

Наименование устройства

Обозначение

Кол-во, шт

1

Базовый блок микроскопа (датчик)

ZYGO/NewView6K NV6200Microscope Part#6300-0501-02 S/N 07-28-59448

1

2

Интерферометрический объектив Майкельсона lx Mich

Zygo Corp L 10221 1XLWD/0.03 WD 8.0

1

3

Интерферометрический объектив Майкельсона lx Mich

Zygo Corp L 10180 1XSLWD/0.03 WD 8.0

1

4

Интерферометрический объектив

Майкельсона 5х Mich

Nikon 5X70,13 TI WD.9.3 426183

1

5

Интерферометрический объектив Миро Юх Mirau

Zygo Corp 1 100766 Юх Юх/0.30 WD7.4 oo/0

1

6

Интерферометрический объектив Миро 20х Mirau

Zygo Corp 1200545 20x 20x70.40 WD4.7 oo/0

1

7

Интерферометрический объектив Миро 50х Mirau

Zygo Corp I 500612 50x /0.55 WD 3.4 oo/0

1

8

Моторизованная турель для объективов на 6 мест

Nikon

1

9

Моторизованный X-Y столик

Zygo          1520-500-114

S/N:080416P138350

1

об утверждении типа средств измерений                            Всего листов 4

10

Контроллер сканирования микроскопа по оси Z и рабочего столика по осям X и Y;

Zygo 6202-0190-14

1

11

Драйвер рабочего столика

Zygo S/N: ТК0801010

1

12

Блок управления микроскопом

Zygo S/N: 07-28-59448

1

13

Компьютер

Dell Optiplex 745

1

14

Основной ЖК монитор

Dell 1708FPf

1

15

Вспомогательный ЖК монитор

Dell 1708FPf

1

16

Клавиатура

Типовая

1

17

Мышь

Типовая

1

18

Стол на виброизолирующих опорах

Dynamics Engineering

1

19

Компрессор

E.C.CIAO 6/185 (до 12 бар);

1

20

Руководство по эксплуатации

1

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносят фотохимическим методом на табличку, закрепляемую с помощью клея на корпус микроскопа, и на титульный лист руководства по эксплуатации типографским способом.

Поверка

Поверка микроскопа проводится по документу «Микроскоп сканирующий интерференционный белого света NewView6200 фирмы “Zygo Corporation”, США. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в июле 2010 г.

Основные средства поверки: меры рельефные высоты ступеньки SHS-1.8QC, SHS-1800QC, SHS-180QC, входящие в состав вторичного эталона ВЭТ 113-2-09; объект-микрометр ОМО ДТ7.216.009ПС, серийный номер №3347.

Вспомогательное средство поверки: Прецизионная опорная пластина ZYGO. Номер модели 1776-666-013. Серийный номер 1776-666-012.

Межповерочный интервал - 1 год.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы-изготовителя фирмы “Zygo Corporation”, США

Заключение

Тип микроскопа сканирующий интерференционный белого света NewView 6200 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, и метрологически обеспечен в эксплуатации.

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
44846-10
Z200 Микроскопы измерительные универсальные
ООО "МЦ "Мастер-Сервис", г.С.-Петербург
Для измерений линейных и угловых размеров различных изделий (резьбовых изделий, режущего инструмента, профильных шаблонов, лекал, кулачков, конусов, метчиков, резьбонарезных гребенок, диаметров сквозных отверстий и др) в прямоугольных и полярных коор...
Default ALL-Pribors Device Photo
44967-10
NVision 40 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а также в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследоват...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Микроскоп может применяться при проведения научных...
Default ALL-Pribors Device Photo
45021-10
Innova Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Veeco Instruments Inc.", США
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах. Область применения - в лаборатории Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и про...
Default ALL-Pribors Device Photo
45266-10
SUPRA-25 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss", Германия
Для проведения измерений линейных размеров топологических элементов, толщин и глубин залегания технологических слоев больших и сверхбольших интегральных схем и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе методом растровой эл...