Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II
Номер в ГРСИ РФ: | 44965-10 |
---|---|
Категория: | Дифрактометры |
Производитель / заявитель: | Фирма "Rigaku Corporation", Япония |
44965-10: Описание типа СИ | Скачать | 392.7 КБ |
Для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Назначения: - определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений), определение параметров кристаллической решетки, оценка качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных и с использованием калибровочных зависимостей состав-параметр кристаллической решетки; определение интегральных интенсивностей Брэгговских отражений, их отношений и проведение на основе этих данных качественного и количественного фазового анализа веществ и материалов; определение интегральной ширины и полуширины Брэгговских отражений, расчет вкладов структурных несовершенств - дефектов строения кристаллической решетки ("физических вкладов") в интегральную ширину, (в величину "физического уширения" дифракционных отражений), расчёт на их основе угловой зависимости этих вкладов характеристик микроструктуры (микронапряжений и размеров областей когерентного рассеяния). Область применения: металлургия, геология, машиностроение, электронная, фармацевтическая и энергетическая промышленность, охрана окружающей среды, строительство, таможенный надзор, научные исследования и др.
Информация по Госреестру
Основные данные | |
---|---|
Номер по Госреестру | 44965-10 |
Наименование | Дифрактометры рентгеновские |
Модель | MiniFlex II |
Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
Класс СИ | 31.01 |
Год регистрации | 2010 |
Страна-производитель | Япония |
Центр сертификации СИ | |
Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМС |
Адрес центра | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
Руководитель центра | Кононогов Сергей Алексеевич |
Телефон | (8*095) 437-55-77 |
Факс | 437-56-66 |
Информация о сертификате | |
Срок действия сертификата | 01.08.2015 |
Номер сертификата | 40503 |
Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
Дата протокола | 03д от 29.07.10 п.343 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Rigaku Corporation", Япония
Япония
3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 196-8666, Japan Тел.: 81-42-545-8189, Факс: 81-42-544-9223, 4-14-4, Sendagaya, Shibuya-ku Tokyo 151-0051, Japan
Поверка
Методика поверки / информация о поверке | Приложение А к Руководству по эксплуатации ВНИИМС |
Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
Зарегистрировано поверок | 15 |
Найдено поверителей | 3 |
Успешных поверок (СИ пригодно) | 15 (100%) |
Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0%) |
Актуальность информации | 03.11.2024 |
Поверители
Скачать
44965-10: Описание типа СИ | Скачать | 392.7 КБ |
Описание типа
Назначение
Дифрактометры рентгеновские «MiniFlex II», предназначены для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Основные назначения дифрактометра:
- определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений), определение параметров кристаллической решетки, оценка качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных и с использованием калибровочных зависимостей состав-параметр кристаллической решетки;
-определение интегральных интенсивностей Брэгговских отражений, их отношений и проведение на основе этих данных качественного и количественного фазового анализа веществ и материалов;
-определение интегральной ширины и полуширины Брэгговских отражений, расчет вкладов структурных несовершенств - дефектов строения кристаллической решетки («физических вкладов») в интегральную ширину, (в величину «физического уширения» дифракционных отражений), расчёт на их основе угловой зависимости этих вкладов характеристик микроструктуры (микронапряжений и размеров областей когерентного рассеяния).
Область применения: металлургия, геология, машиностроение, электронная, фармацевтическая и энергетическая промышленность, охрана окружающей среды, строительство, таможенный надзор, научные исследования и др.
Описание
Принцип действия дифрактометра основан на дифракции рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристаллической решетки исследуемого вещества. Направляемый из источника пучок рентгеновских лучей отражается от кристаллографических плоскостей и фокусируется на приемной щели детектора. Регистрация дифракционной картины углового распределения отражаемых импульсов (для выделения возникающих Брэгговских отражений от систем различных кристаллографических плоскостей) осуществляется детектором - счетчиком количества зарегистрированных импульсов. Методики измерений и обработки данных изложены в руководстве по эксплуатации № МЕ14966А03. Методики измерений и обработки данных для ГСО и мер, используемых при проведении испытаний и поверки, изложены в прилагаемых Инструкциях по применению этих ГСО и мер.
Дифрактометры рентгеновские «MiniFlex II» представляют собой настольный автоматизированный прибор с диапазоном регистрации от -3 до 145 (градус) по шкале углов 26.
Конструктивно прибор выполнен в виде отдельных модулей, связанных между собой и управляемых от персонального компьютера. Прибор с радиусом гониометра 150 мм и с с диапазоном регистрации от -3 до 145 (градус) по шкале углов 26, в зависимости от используемой геометрии рентгенографирования. Прибор состоит из базовой платформы, источника рентгеновского излучения (включая рентгеновскую трубку), гониометра, детектора, блока электроники и компьютера для управления прибором и обработки данных. Управление дифрактометром, юстировка, сбор первичных данных, их обработка и вычисление характеристик анализируемых образцов в соответствие с назначениями дифрактометров осуществляются с помощью поставляемого программного обеспечения, устанавливаемого на персональный компьютер. Компоненты программного обеспечения имеет защиту от несанкционированного копирования, настройки и вмешательства, которые могут привести к непреднамеренному и преднамеренному искажению результатов измерений.
Технические характеристики
Радиус гониометра, мм, 150 мм
Полный диапазон измеряемых углов дифракции (Брэгговских отражений), градус 0D, 0S связанные от -3 до 145 (26)
Минимальное значение шага, градус: ffD, 0S связанные 0.01
Напряжение на аноде рентгеновской
трубки, кВ 30 кВ фиксировано
Анодный ток рентгеновской трубки, мА, 15 мА фиксировано
Время установления рабочего режима, мин, не более 1
Габаритные размеры длинах ширинахвысота (без компьютера), мм: 560x375x656
Масса (без компьютера, охлаждающего блока и трансформаторов), кг:
Напряжение питания установки частотой 50+1 Гц, В
Потребляемая мощность (без компьютера и охлажд. блока), ВА
Диапазон рабочих температур, °C
Относительная влажность (при 25 °C), %
Диапазон атмосферного давления, кПа (мм рт. ст.)
Продолжительность непрерывной работы, ч
Время наработки на отказ, ч
Мощность эквивалентной дозы в рабочем положении в любой точке на расстоянии 0,1м от поверхности защиты, мкЗв/ч
не более 80
220+10%
не более 1000
от +15 до+25
не более 70
84-107 (630-800)
без ограничений
не менее 2000
не более 1,0
Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения
параметров кристаллической решетки, нм ± 0,0005
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения параметров кристаллической решетки, нм ± 0,0004
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения угловых позиций Брэгговских отражений по 2®, градус:
на диапазоне 20-100 градус
на диапазоне 100-145 градус ± 0,05
Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения
отношения интегральных интенсивностей, %
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности
определения отношения интегральных интенсивностей, %
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения ширины на полувысоте FWHM Брэгговских отражений по 2®, градус ± 0,04
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения интегральной ширины Брэгговских
отражений по 20, градус ± 0,06
Определение предела допускаемой абсолютной погрешности
определения "физического уширения" Брэгговских
отражений по 20, градус:
для отражений с интегральной интенсивностью более 5% ± 0,25
для высокоугловых отражений и с интенсивностью менее 5 % от
максимального Брэгговского отражения ± 0,30
Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения "физического уширения" Брэгговских отражений по 20, градус:
для отражений с интегральной интенсивностью более 5% ±0,12
для высокоугловых отражений и с интенсивностью менее 5 % от максимального Брэгговского отражения ± 0,25
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на титульный лист Паспорта методом компьютерной графики и на корпус прибора, окрашиванием, с указанием названия прибора, модели, заводского номера и даты выпуска.
Комплектность
Комплектность поставки дифрактометров рентгеновских «MiniFlex II» указана в таблице
Наименование |
Единица измерения |
Кол-во шт. | |
Дифрактометр рентгеновский «MiniFlex II» в том числе: |
шт. |
1 | |
Комплект руководства по использованию дифрактометра и программного обеспечения |
комп. |
2 | |
Спецификация (паспорт) |
экз. |
1 | |
Методика поверки |
экз. |
1 | |
Упаковочный лист |
шт. |
1 | |
Основной блок | |||
1 |
Рентгеновский генератор | ||
1.1 |
Рентгеновский генератор, 0.45 кВт |
шт. |
1 |
1.2 |
Рентгеновская трубка (Cu-изл. 1 кВт, другие - опция) и Ni-фильтр |
шт. |
1 |
1.3 |
Теплообменник (опция) с комплектом шлангов |
шт. |
1 |
1.4 |
Понижающий трансформатор 220/110 В (может быть исключен из комплектации по требованию заказчика) |
шт. |
1 |
2 |
Защитный кожух | ||
2.1 |
Защитный кожух, стандартный |
шт. |
1 |
3 |
Гониометр | ||
3.1 |
Вертикальный гониометр |
шт. |
1 |
3.2 |
Щели | ||
Щель на падающем пучке (DS) -1.25° (изменяемая при 29 меньше 20°) - 0.625° (изменяемая при 29 меньше 10°) |
шт. |
1 | |
Антирассеивающая щель (SS) 1.25° |
шт. |
1 | |
Приемная щель (RS) 0.30 мм |
шт. |
1 | |
Щели Соллера. Угол осевого расхождения 5.0° |
шт. |
1 | |
3.3 |
Графитовый фиксированный монохроматор [опция] |
шт. |
1 |
4 |
Детектор рентгеновского излучения и контроллер | ||
4.1 |
Сцинтилляционный детектор |
шт. |
1 |
4.2 |
Высокочувствительный скоростной детектор D/tex Ultra [опция] |
шт. |
1 |
5 |
Стандартное программное обеспечение | ||
5.1 |
ПО для установки параметров системы и изменения конфигурации |
шт. |
1 |
5.2 |
ПО для проведения измерений в ручном режиме (ручное управление щелями, всеми осями и детектором) |
шт. |
1 |
5.3 |
ПО для проведения стандартных измерений |
шт. |
1 |
5.4 |
ПО поиска пиков |
шт. |
1 |
5.5 |
ПО отображения данных из нескольких файлов |
шт. |
1 |
5.6 |
ПО определения интегральной интенсивности (в том числе сглаживание профиля, выделение фона, разделение дублета) |
шт. |
1 |
5.7 |
ПО отображения и редактирования параметров измерений |
шт. |
1 |
5.8 |
ПО перевода данных из бинарного формата в ASCII формат и текстовый формат |
шт. |
1 |
6 |
Прикладное программное обеспечение [опция] | ||
6.1 |
PDXL Basic Package (основной пакет) |
шт. |
1 |
6.2 |
Дополнительные приложения к PDXL | ||
PDXL Qualitative analysis (качественный анализ) |
шт. |
1 | |
PDXL Quantitative analysis (количественный анализ) |
шт. |
1 | |
PDXL Comprehensive analysis (полный анализ) |
шт. |
1 | |
PDXL Rietveld analysis (Ритвельд) |
шт. |
1 | |
6.3 |
База данных ICDD PDF-2 (или другие - по заказу) |
шт. |
1 |
7 |
Набор принадлежностей |
компл. |
1 |
8 |
Стандартная приставка | ||
8.1 |
Стандартная приставка |
шт. |
1 |
8.2 |
Стеклянный держатель образца с углублением 0.5 мм |
шт. |
2 |
8.3 |
Стеклянный держатель образца с углублением 0.2 мм |
шт. |
2 |
8.4 |
Алюминиевый держатель образца |
шт. |
5 |
9 |
Дополнительные приставки [опция] |
9.1 |
Приставка вращения образца |
шт. |
1 |
9.2 |
Автоматический 6-ти позиционный загрузчик образцов |
шт. |
1 |
10 |
Управляющий компьютер* в составе: | ||
Процессор Intel Pentium Dual Core, частота не менее 1500 МГц, материнская плата, оперативная память не менее RAM 512 Mb, жесткий даек не менее 80 Гб, видеокарта, привод Combo DVD и CD ±RW или DVD±RW, USB-2.0, два ли более порта RS232C (СОМ). ОС Windows ХР Professional (лицензионная, английская версия) |
шт. |
1 | |
Монитор LCD не менее 17" |
шт. |
1 | |
Принтер струйный цветной |
шт. |
1 | |
Клавиатура |
шт. |
1 | |
Мышь |
шт. |
1 | |
RS232C кабель |
шт. |
1 | |
* может быть исключен из комплектации по требованию заказчика | |||
11 |
Средства метрологического обеспечения: набор обязательных и дополнительных стандартных образцов (СО) и мер на основе дифракционных свойств; объем обязательного набора СО определяется назначением конкретного дифрактометра (дополнительные СО поставляются как опция, изготовитель ФГУП «ВНИ-ИМС») | ||
11.1 11.2 11.3 11-4 11-5 |
Основные стандартные образцы дифракционных свойств, используемые при поверке и для калибровки угловых позиций Брэгговских отражений: - СО для определения параметров кристаллической решетки, (например, ПРИ-7а, ГСО 8631-2004 дифракционные свойства кристаллической решетки, оксид алюминия), (для калибровки второй СО, дифракционные свойства кристаллической решетки, например ГСО ПРФ-3 - кремний, обязателен при использовании позиционно-чувствительного детектора); - для учета инструментальных вкладов в интегральные ширины Брэгговских отражений (полуширины Брэгговских отражений), ГСО ПРФ-3, кремний, (для учета формы профилей Брэгговских отражений с невысоким атомным номером компонент), ГСО ПРФ-12, гексаборид лантана (для учета формы профилей Брэгговских отражений веществ с повышенными атомными номерами компонент) - для контроля правильности определения физических вкладов (вкладов структурных несовершенств- микродефектов) в уширения при невысоких уровнях структурных дефектов (например, Мера физического уширения - кремний), МФУ-2-3 и при высоких уровнях структурных дефектов, (например, Мера физического уширения - сталь аустенитная), МФУ-2-4) |
комп. |
1 |
Дополнительные стандартные образцы -для контроля измерений структурных параметров методами полнопрофильного анализа, включая методы Ритвелда (например, МЛКА-3-1, купрат иттрия-бария и др.) и др. |
Примечание**: Комплектность поставки Стандартных образцов может изменяться по согласованию с Заказчиком в зависимости от используемых назначений дифрактометра.
Поверка
Поверка дифрактометров рентгеновских «MiniFlex II» осуществляется в соответствии с документом “Дифрактометр рентгеновский «MiniFlex II», “Методика поверки”, являющимся Приложением А к Руководствам по эксплуатации и утвержденным ГЦИ СИ ФГУП “ВНИИМС”, 26 апреля 2010 г.
Межповерочный интервал - 1 год.
Основные средства поверки: Комплект стандартных образцов и мер на основе дифракционных свойств кристаллическо решетки ГСО 8631-2004, ПРИ-7а, ГСО ПРФ-3, ГСО ПРФ-3, (для контроля правильности определения параметров кристаллической решетки, контроля правильности определения отношений интегральных интенсивностей; контроля правильности определения ширины Брэгговских отражений для определений вкладов структурных несовершенств).
Нормативные документы
1. ГОСТ Р 51350-99 "Безопасность электрических контрольно-измерительных приборов и лабораторного оборудования. Общие требования".
2. Основные правила обеспечения радиационной безопасности (ОСПОРБ-99) СП 2.6.1.799-99.
3. Нормы радиационной безопасности (НРБ-99) СП 2.6.1.758-99.
4. СанПиН №5170-90. Санитарные правила работы с источниками низкоэнергетического рентгеновского излучения.
5. Руководство по эксплуатации - рентгеновский дифрактометр «MiniFlex II» МЕ14966А03, либо более поздних изданий
6. Спецификация (Паспорт)
Заключение
Тип дифрактометры рентгеновские «MiniFlex II» утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа и метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации на территории Российской Федерации.
Имеется Санитарно-эпидемиологическое заключение об освобождении от радиационного контроля, учета и необходимости оформления лицензии на право работы с ними № 77.99.37.427.Д.012094.11.08 от 10.11.2008 г., выданное Федеральной службой по надзору в сфере защиты прав потребителей и благополучия человека РФ.