44965-10: MiniFlex II Дифрактометры рентгеновские - Производители, поставщики и поверители

Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 44965-10
Категория: Дифрактометры
Производитель / заявитель: Фирма "Rigaku Corporation", Япония
Скачать
44965-10: Описание типа СИ Скачать 392.7 КБ
Нет данных о поставщике
Дифрактометры рентгеновские MiniFlex II поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Назначения: - определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений), определение параметров кристаллической решетки, оценка качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных и с использованием калибровочных зависимостей состав-параметр кристаллической решетки; определение интегральных интенсивностей Брэгговских отражений, их отношений и проведение на основе этих данных качественного и количественного фазового анализа веществ и материалов; определение интегральной ширины и полуширины Брэгговских отражений, расчет вкладов структурных несовершенств - дефектов строения кристаллической решетки ("физических вкладов") в интегральную ширину, (в величину "физического уширения" дифракционных отражений), расчёт на их основе угловой зависимости этих вкладов характеристик микроструктуры (микронапряжений и размеров областей когерентного рассеяния). Область применения: металлургия, геология, машиностроение, электронная, фармацевтическая и энергетическая промышленность, охрана окружающей среды, строительство, таможенный надзор, научные исследования и др.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 44965-10
Наименование Дифрактометры рентгеновские
Модель MiniFlex II
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 31.01
Год регистрации 2010
Страна-производитель  Япония 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 01.08.2015
Номер сертификата 40503
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 03д от 29.07.10 п.343
Производитель / Заявитель

Фирма "Rigaku Corporation", Япония

 Япония 

3-9-12 Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 196-8666, Japan Тел.: 81-42-545-8189, Факс: 81-42-544-9223, 4-14-4, Sendagaya, Shibuya-ku Tokyo 151-0051, Japan

Поверка

Методика поверки / информация о поверке Приложение А к Руководству по эксплуатации ВНИИМС
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 15
Найдено поверителей 3
Успешных поверок (СИ пригодно) 15 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Скачать

44965-10: Описание типа СИ Скачать 392.7 КБ

Описание типа

Назначение

Дифрактометры рентгеновские «MiniFlex II», предназначены для измерения углового распределения интенсивности отраженного пучка рентгеновских лучей. Основные назначения дифрактометра:

- определение угловой позиции максимумов (в упрощенных вариантах обработки данных - центров тяжести) дифракционных отражений (Брэгговских отражений), определение параметров кристаллической решетки, оценка качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных и с использованием калибровочных зависимостей состав-параметр кристаллической решетки;

-определение интегральных интенсивностей Брэгговских отражений, их отношений и проведение на основе этих данных качественного и количественного фазового анализа веществ и материалов;

-определение интегральной ширины и полуширины Брэгговских отражений, расчет вкладов структурных несовершенств - дефектов строения кристаллической решетки («физических вкладов») в интегральную ширину, (в величину «физического уширения» дифракционных отражений), расчёт на их основе угловой зависимости этих вкладов характеристик микроструктуры (микронапряжений и размеров областей когерентного рассеяния).

Область применения: металлургия, геология, машиностроение, электронная, фармацевтическая и энергетическая промышленность, охрана окружающей среды, строительство, таможенный надзор, научные исследования и др.

Описание

Принцип действия дифрактометра основан на дифракции рентгеновских лучей от атомных плоскостей кристаллической решетки исследуемого вещества. Направляемый из источника пучок рентгеновских лучей отражается от кристаллографических плоскостей и фокусируется на приемной щели детектора. Регистрация дифракционной картины углового распределения отражаемых импульсов (для выделения возникающих Брэгговских отражений от систем различных кристаллографических плоскостей) осуществляется детектором - счетчиком количества зарегистрированных импульсов. Методики измерений и обработки данных изложены в руководстве по эксплуатации № МЕ14966А03. Методики измерений и обработки данных для ГСО и мер, используемых при проведении испытаний и поверки, изложены в прилагаемых Инструкциях по применению этих ГСО и мер.

Дифрактометры рентгеновские «MiniFlex II» представляют собой настольный автоматизированный прибор с диапазоном регистрации от -3 до 145 (градус) по шкале углов 26.

Конструктивно прибор выполнен в виде отдельных модулей, связанных между собой и управляемых от персонального компьютера. Прибор с радиусом гониометра 150 мм и с с диапазоном регистрации от -3 до 145 (градус) по шкале углов 26, в зависимости от используемой геометрии рентгенографирования. Прибор состоит из базовой платформы, источника рентгеновского излучения (включая рентгеновскую трубку), гониометра, детектора, блока электроники и компьютера для управления прибором и обработки данных. Управление дифрактометром, юстировка, сбор первичных данных, их обработка и вычисление характеристик анализируемых образцов в соответствие с назначениями дифрактометров осуществляются с помощью поставляемого программного обеспечения, устанавливаемого на персональный компьютер. Компоненты программного обеспечения имеет защиту от несанкционированного копирования, настройки и вмешательства, которые могут привести к непреднамеренному и преднамеренному искажению результатов измерений.

Технические характеристики

Радиус гониометра, мм,                 150 мм

Полный диапазон измеряемых углов дифракции (Брэгговских отражений), градус 0D, 0S связанные от -3 до 145 (26)

Минимальное значение шага, градус:         ffD, 0S связанные 0.01

Напряжение на аноде рентгеновской

трубки, кВ                            30 кВ фиксировано

Анодный ток рентгеновской трубки, мА, 15 мА фиксировано

Время установления рабочего режима, мин,                            не более 1

Габаритные размеры длинах ширинахвысота (без компьютера), мм:                   560x375x656

Масса (без компьютера, охлаждающего блока и трансформаторов), кг:

Напряжение питания установки частотой 50+1 Гц, В

Потребляемая мощность (без компьютера и охлажд. блока), ВА

Диапазон рабочих температур, °C

Относительная влажность (при 25 °C), %

Диапазон атмосферного давления, кПа (мм рт. ст.)

Продолжительность непрерывной работы, ч

Время наработки на отказ, ч

Мощность эквивалентной дозы в рабочем положении в любой точке на расстоянии 0,1м от поверхности защиты, мкЗв/ч

не более 80

220+10%

не более 1000

от +15 до+25

не более 70

84-107 (630-800)

без ограничений

не менее 2000

не более 1,0

Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения

параметров кристаллической решетки, нм                           ± 0,0005

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения параметров кристаллической решетки, нм              ± 0,0004

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности измерения угловых позиций Брэгговских отражений по 2®, градус:

на диапазоне 20-100 градус

на диапазоне 100-145 градус                                          ± 0,05

Пределы допускаемой абсолютной погрешности определения

отношения интегральных интенсивностей, %

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности

определения отношения интегральных интенсивностей, %

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения ширины на полувысоте FWHM Брэгговских отражений по 2®, градус                                          ± 0,04

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения интегральной ширины Брэгговских

отражений по 20, градус                                          ± 0,06

Определение предела допускаемой абсолютной погрешности

определения "физического уширения" Брэгговских

отражений по 20, градус:

для отражений с интегральной интенсивностью более 5%            ± 0,25

для высокоугловых отражений и с интенсивностью менее 5 % от

максимального Брэгговского отражения                            ± 0,30

Среднеквадратичное отклонение случайной составляющей (СКО) погрешности определения "физического уширения" Брэгговских отражений по 20, градус:

для отражений с интегральной интенсивностью более 5%            ±0,12

для высокоугловых отражений и с интенсивностью менее 5 % от максимального Брэгговского отражения                            ± 0,25

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист Паспорта методом компьютерной графики и на корпус прибора, окрашиванием, с указанием названия прибора, модели, заводского номера и даты выпуска.

Комплектность

Комплектность поставки дифрактометров рентгеновских «MiniFlex II» указана в таблице

Наименование

Единица измерения

Кол-во шт.

Дифрактометр рентгеновский «MiniFlex II» в том числе:

шт.

1

Комплект руководства по использованию дифрактометра и программного обеспечения

комп.

2

Спецификация (паспорт)

экз.

1

Методика поверки

экз.

1

Упаковочный лист

шт.

1

Основной блок

1

Рентгеновский генератор

1.1

Рентгеновский генератор, 0.45 кВт

шт.

1

1.2

Рентгеновская трубка (Cu-изл. 1 кВт, другие - опция) и Ni-фильтр

шт.

1

1.3

Теплообменник (опция) с комплектом шлангов

шт.

1

1.4

Понижающий трансформатор 220/110 В (может быть исключен из комплектации по требованию заказчика)

шт.

1

2

Защитный кожух

2.1

Защитный кожух, стандартный

шт.

1

3

Гониометр

3.1

Вертикальный гониометр

шт.

1

3.2

Щели

Щель на падающем пучке (DS)

-1.25° (изменяемая при 29 меньше 20°) - 0.625° (изменяемая при 29 меньше 10°)

шт.

1

Антирассеивающая щель (SS) 1.25°

шт.

1

Приемная щель (RS) 0.30 мм

шт.

1

Щели Соллера. Угол осевого расхождения 5.0°

шт.

1

3.3

Графитовый фиксированный монохроматор [опция]

шт.

1

4

Детектор рентгеновского излучения и контроллер

4.1

Сцинтилляционный детектор

шт.

1

4.2

Высокочувствительный скоростной детектор D/tex Ultra [опция]

шт.

1

5

Стандартное программное обеспечение

5.1

ПО для установки параметров системы и изменения конфигурации

шт.

1

5.2

ПО для проведения измерений в ручном режиме (ручное управление щелями, всеми осями и детектором)

шт.

1

5.3

ПО для проведения стандартных измерений

шт.

1

5.4

ПО поиска пиков

шт.

1

5.5

ПО отображения данных из нескольких файлов

шт.

1

5.6

ПО определения интегральной интенсивности (в том числе сглаживание профиля, выделение фона, разделение дублета)

шт.

1

5.7

ПО отображения и редактирования параметров измерений

шт.

1

5.8

ПО перевода данных из бинарного формата в ASCII формат и текстовый формат

шт.

1

6

Прикладное программное обеспечение [опция]

6.1

PDXL Basic Package (основной пакет)

шт.

1

6.2

Дополнительные приложения к PDXL

PDXL Qualitative analysis (качественный анализ)

шт.

1

PDXL Quantitative analysis (количественный анализ)

шт.

1

PDXL Comprehensive analysis (полный анализ)

шт.

1

PDXL Rietveld analysis (Ритвельд)

шт.

1

6.3

База данных ICDD PDF-2 (или другие - по заказу)

шт.

1

7

Набор принадлежностей

компл.

1

8

Стандартная приставка

8.1

Стандартная приставка

шт.

1

8.2

Стеклянный держатель образца с углублением 0.5 мм

шт.

2

8.3

Стеклянный держатель образца с углублением 0.2 мм

шт.

2

8.4

Алюминиевый держатель образца

шт.

5

9

Дополнительные приставки [опция]

9.1

Приставка вращения образца

шт.

1

9.2

Автоматический 6-ти позиционный загрузчик образцов

шт.

1

10

Управляющий компьютер* в составе:

Процессор Intel Pentium Dual Core, частота не менее 1500 МГц, материнская плата, оперативная память не менее RAM 512 Mb, жесткий даек не менее 80 Гб, видеокарта, привод Combo DVD и CD ±RW или DVD±RW, USB-2.0, два ли более порта RS232C (СОМ). ОС Windows ХР Professional (лицензионная, английская версия)

шт.

1

Монитор LCD не менее 17"

шт.

1

Принтер струйный цветной

шт.

1

Клавиатура

шт.

1

Мышь

шт.

1

RS232C кабель

шт.

1

* может быть исключен из комплектации по требованию заказчика

11

Средства метрологического обеспечения:

набор обязательных и дополнительных стандартных образцов (СО) и мер на основе дифракционных свойств; объем обязательного набора СО определяется назначением конкретного дифрактометра (дополнительные СО поставляются как опция, изготовитель ФГУП «ВНИ-ИМС»)

11.1

11.2

11.3

11-4

11-5

Основные стандартные образцы дифракционных свойств, используемые при поверке и для калибровки угловых позиций Брэгговских отражений:

- СО для определения параметров кристаллической решетки, (например, ПРИ-7а, ГСО 8631-2004 дифракционные свойства кристаллической решетки, оксид алюминия), (для калибровки второй СО, дифракционные свойства кристаллической решетки, например ГСО ПРФ-3 - кремний, обязателен при использовании позиционно-чувствительного детектора);

- для учета инструментальных вкладов в интегральные ширины Брэгговских отражений (полуширины Брэгговских отражений), ГСО ПРФ-3, кремний, (для учета формы профилей Брэгговских отражений с невысоким атомным номером компонент),

ГСО ПРФ-12, гексаборид лантана (для учета формы профилей Брэгговских отражений веществ с повышенными атомными номерами компонент)

- для контроля правильности определения физических вкладов (вкладов структурных несовершенств- микродефектов) в уширения при невысоких уровнях структурных дефектов (например, Мера физического уширения - кремний), МФУ-2-3 и при высоких уровнях структурных дефектов, (например, Мера физического уширения - сталь аустенитная), МФУ-2-4)

комп.

1

Дополнительные стандартные образцы

-для контроля измерений структурных параметров методами полнопрофильного анализа, включая методы Ритвелда (например, МЛКА-3-1, купрат иттрия-бария и др.) и др.

Примечание**: Комплектность поставки Стандартных образцов может изменяться по согласованию с Заказчиком в зависимости от используемых назначений дифрактометра.

Поверка

Поверка дифрактометров рентгеновских «MiniFlex II» осуществляется в соответствии с документом “Дифрактометр рентгеновский «MiniFlex II», “Методика поверки”, являющимся Приложением А к Руководствам по эксплуатации и утвержденным ГЦИ СИ ФГУП “ВНИИМС”, 26 апреля 2010 г.

Межповерочный интервал - 1 год.

Основные средства поверки: Комплект стандартных образцов и мер на основе дифракционных свойств кристаллическо решетки ГСО 8631-2004, ПРИ-7а, ГСО ПРФ-3, ГСО ПРФ-3, (для контроля правильности определения параметров кристаллической решетки, контроля правильности определения отношений интегральных интенсивностей; контроля правильности определения ширины Брэгговских отражений для определений вкладов структурных несовершенств).

Нормативные документы

1. ГОСТ Р 51350-99 "Безопасность электрических контрольно-измерительных приборов и лабораторного оборудования. Общие требования".

2. Основные правила обеспечения радиационной безопасности (ОСПОРБ-99) СП 2.6.1.799-99.

3. Нормы радиационной безопасности (НРБ-99) СП 2.6.1.758-99.

4. СанПиН №5170-90. Санитарные правила работы с источниками низкоэнергетического рентгеновского излучения.

5. Руководство по эксплуатации - рентгеновский дифрактометр «MiniFlex II» МЕ14966А03, либо более поздних изданий

6. Спецификация (Паспорт)

Заключение

Тип дифрактометры рентгеновские «MiniFlex II» утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа и метрологически обеспечен при выпуске из производства и в эксплуатации на территории Российской Федерации.

Имеется Санитарно-эпидемиологическое заключение об освобождении от радиационного контроля, учета и необходимости оформления лицензии на право работы с ними № 77.99.37.427.Д.012094.11.08 от 10.11.2008 г., выданное Федеральной службой по надзору в сфере защиты прав потребителей и благополучия человека РФ.

Другие Дифрактометры

Default ALL-Pribors Device Photo
45798-10
D/MAX-2500 Дифрактометр рентгеновский
Фирма "Rigaku Corporation", Япония
Для регистрации и анализа дифракционных картин путем измерения углов, получаемых в результате интерференции рентгеновских лучей, рассеянных электронами атомов облучаемых образцов. Основными задачами, выполняемыми с применением дифрактометра являются...
46373-11
Empyrean Дифрактометры рентгеновские
Фирма "PANalytical B.V.", Нидерланды
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Default ALL-Pribors Device Photo
47729-11
EMMA Дифрактометры рентгеновские
Фирма "GBC Scientific Equipment Pty Ltd.", Австралия
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
47995-11
EXPLORER Дифрактометры рентгеновские
Фирма "G.N.R. s.r.l.", Италия
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Default ALL-Pribors Device Photo
48288-11
Shimadzu XRD-7000 Дифрактометр рентгеновский
Фирма "Shimadzu Corporation", Япония
Для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.