Микроскоп растровый электронный SUPRA-25

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 45266-10
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия

Для проведения измерений линейных размеров топологических элементов, толщин и глубин залегания технологических слоев больших и сверхбольших интегральных схем и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе методом растровой электронной микроскопии. Область применения - впроизводственной лаборатории ФГУП "ФНПЦ НИИИС им. Ю.Е. Седакова".

Скачать

45266-10: Описание типа СИ Скачать 237.4 КБ
Нужна поверка? Найдите поверителя на сайте www.ktopoverit.ru

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 45266-10
Наименование Микроскоп растровый электронный
Модель SUPRA-25
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2010
Методика поверки / информация о поверке ГОСТ Р 8.631-07
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 6 месяцев
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИОФИ
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Иванов Вячеслав Семенович
Телефон (8*095) 437-56-33
Факс 437-31-47
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 40914
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 03д2 от 29.07.10 п.295
Производитель / Заявитель

Фирма "Carl Zeiss", Германия

 Германия 

D-73446, Oberkochen, Germany

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
45324-10
Libra120 Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерения геометрических расстояний и размеров элементов тонкой субмикронной структуры твердотельных материалов. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а так же в лаборат...
Default ALL-Pribors Device Photo
45021-10
Innova Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Veeco Instruments Inc.", США
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах. Область применения - в лаборатории Центра метрологического обеспечения и оценки соответствия нанотехнологий и про...
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов, в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком. Микроскоп может применяться при проведения научных...
Default ALL-Pribors Device Photo
45559-10
STM6-LM-F35-2 Микроскоп измерительный
Фирма "OLYMPUS Co.", Япония
Для измерений координат в прямоугольной системе, высоты элементов деталей, диаметров цилиндров, круглых прутков и винтов. Область применения - лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.