45324-10: Libra120 Микроскоп электронный просвечивающий - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп электронный просвечивающий Libra120

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 45324-10
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия
Скачать
45324-10: Описание типа СИ Скачать 142.4 КБ
Нет данных о поставщике
Микроскоп электронный просвечивающий Libra120 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения геометрических расстояний и размеров элементов тонкой субмикронной структуры твердотельных материалов. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а так же в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организациях.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 45324-10
Наименование Микроскоп электронный просвечивающий
Модель Libra120
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2010
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 40930
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола 03д2 от 29.07.10 п.353
Производитель / Заявитель

Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия

 Германия 

Carl Zeiss Strasse 56 D-73447 Oberkochen, тел. +497364/205991 факс +497364/943226

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП ВНИИМС
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Актуальность информации 22.12.2024

Поверители

Скачать

45324-10: Описание типа СИ Скачать 142.4 КБ

Описание типа

Назначение

Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120 (далее ПЭМ Libra) предназначен для измерения геометрических расстояний и размеров элементов тонкой субмикронной структуры твердотельных материалов.

Микроскоп применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а так же в лабораториях промышленных предприятий, научно-исследовательских и учебных организациях.

Описание

ПЭМ Libra представляет собой стационарную измерительную систему.

ПЭМ Libra формирует пучок электронов с энергией до 120 кэВ для непосредственного просвечивания объекта. В качестве объектов, прозрачных для электронов с такой энергией, могут исследоваться ультратонкие срезы, напыленные в вакууме реплики, нанесенные на прозрачную для электронов подложку наночастицы и др. Система магнитных линз микроскопа формирует электронно-микроскопическое изображение объекта в проходящих электронах. Контраст на изображении, т.е. его неравномерная освещенность, возникает из-за того, что рассеяние проходящих электронов зависит от массы атомов просвечиваемого вещества, а также, в случае просвечивания кристаллического вещества, и от ориентации кристаллографических осей относительно электронного луча микроскопа. Соответствующие неоднородности объекта становятся видимыми на электронно-микроскопическом изображении благодаря тому, что электроны, рассеянные на большие углы, задерживаются апертурной диафрагмой и не участвуют в формировании окончательного изображения.

ПЭМ Libra оснащен гониометрическим держателем препаратов. Насос высокого вакуума является безмасляным.

Программное обеспечение ПЭМ Libra защищено от несанкционированных изменений.

Технические характеристики

Разрешающая способность при ускоряющем напряжении 120 кВ, нм

0,2

Диапазон регулировки увеличения

8+630 000

Диапазон измерения геометрических расстояний, мкм

100+4-1 О'4

Пределы допускаемой основной относительной погрешности измерения геометрических расстояний при ускоряющем напряжении 120 кВ*: в диапазоне (100+0,4) мкм при измерении абсолютных размеров

в диапазоне (100+0,4) мкм при сличении геометрических расстояний в режиме компаратора

в диапазоне (0,4+4-1 О'4) мкм при измерении абсолютных размеров

в диапазоне (0,4+4-1 О'4) мкм при сличении геометрических расстояний в режиме компаратора

±7%

± 0,5%

± 25%

± 10%

Диапазон регулировки ускоряющего напряжения, кВ

80 или 120

Номинальное напряжение трехфазной сети питания, В

360-420

Максимальная потребляемая мощность, кВ-А

13

Габаритные размеры основных блоков не более, мм

стенд с колонной, блок питания высоковольтный блок блок управления блок охлаждения

1400x1960x2440 800x720x1560 550x780x1270 930x530x1930 680x680x1480

Условия эксплуатации:

- температура окружающего воздуха, °C..................................

- относительная влажность воздуха, %....................................

(22 ± 0,2) (40 ± 2)

Общая масса без ЗИП и упаковки не более, кг

2615

* Погрешность измерения при сличении геометрических размеров в режиме компаратора определяется техническими возможностями самого ПЭМ Libra. Погрешность при измерении абсолютных размеров в значительной степени определяется точностью передачи единицы длины с помощью утвержденных и применяемых мер длины соответствующего диапазона.

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.

Комплектность

В комплект поставки входят:

1. Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120      - 1экз.;

2. Комплект ЗИП и расходные материалы                  -1 компл.;

3. Руководство по эксплуатации                           -1 шт.

Поверка

Поверка ПЭМ Libra осуществляется в соответствии с документом «Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120. Методика поверки», утвержденным ФГУП «ВНИИМС» в 2010 г.

Основные средства поверки:

• Мера периода рельефная S106 (Госреестр № 44966-10)

• Мера рельефная графитовая S140 (Госреестр № 44968-10)

Межповерочный интервал - один год.

Нормативные документы

Техническая документация фирмы-изготовителя «Carl Zeiss, Inc», Германия.

Заключение

Тип микроскопа растрового электронного просвечивающего Libra 120 утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведёнными в настоящем описании типа, и метрологически обеспечен в эксплуатации.

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов, в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Default ALL-Pribors Device Photo
45559-10
STM6-LM-F35-2 Микроскоп измерительный
Фирма "OLYMPUS Co.", Япония
Для измерений координат в прямоугольной системе, высоты элементов деталей, диаметров цилиндров, круглых прутков и винтов. Область применения - лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения топографии поверхности, применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Default ALL-Pribors Device Photo
46917-11
Motic B1-223ASC Микроскоп оптический
Компания "BBT" Sp.z.o.o., Польша
Для измерений размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел.