Микроскопы МПБ-2

ALL-Pribors default picture
Номер в ГРСИ РФ: 459-50
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: -
Нужна поверка? Найдите поверителя на сайте www.ktopoverit.ru

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 459-50
Наименование Микроскопы
Модель МПБ-2
Класс СИ 27.01
Год регистрации 1957
Межповерочный интервал / Периодичность поверки -
Страна-производитель  СССР 
Примечание Исключен в 1957 г.
Центр сертификации СИ
Наименование центра -
Телефон ()
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата нет
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола 1957

Другие Микроскопы

Default ALL-Pribors Device Photo
45559-10
STM6-LM-F35-2 Микроскоп измерительный
Фирма "OLYMPUS Co.", Япония
Для измерений координат в прямоугольной системе, высоты элементов деталей, диаметров цилиндров, круглых прутков и винтов. Область применения - лаборатории промышленных предприятий и научно-исследовательских институтов.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерений при проведении металлографических наблюдений и исследований, в том числе при контроле качества образцов, в машиностроении, геологии, микроэлектронике и других отраслях промышленности.
Default ALL-Pribors Device Photo
Для измерения топографии поверхности, применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Default ALL-Pribors Device Photo
45324-10
Libra120 Микроскоп электронный просвечивающий
Фирма "Carl Zeiss, Inc.", Германия
Для измерения геометрических расстояний и размеров элементов тонкой субмикронной структуры твердотельных материалов. Применяется в материаловедении, микроэлектронике и полупроводниковых технологиях, геологии, биологии, металлургии, а так же в лаборат...
Default ALL-Pribors Device Photo
45266-10
SUPRA-25 Микроскоп растровый электронный
Фирма "Carl Zeiss", Германия
Для проведения измерений линейных размеров топологических элементов, толщин и глубин залегания технологических слоев больших и сверхбольших интегральных схем и параметров микрорельефа поверхности различных объектов в твердой фазе методом растровой эл...