Микроскопы МПБ-2
| Номер в ГРСИ РФ: | 459-50 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Нет данных |
Нет данных о поставщике
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 459-50 |
| Наименование | Микроскопы |
| Модель | МПБ-2 |
| Код идентификации производства |
ОС
СИ не соответствует критериям подтверждения производства на территории
РФ в соответствии с постановлением №719
|
| Характер производства | Серийное |
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | 45b18d39-325f-a75b-789c-d3db11a34861 |
| Год регистрации | 1957 |
Информация устарела
| Общие данные | |
|---|---|
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 1957 |
| Страна-производитель | СССР |
| Примечание | Исключен в 1957 г. |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | - |
| Телефон | () |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | нет |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | 1957 |
Производитель / Заявитель
Нет данных
СССР
-
Поверка
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | - |
| Зарегистрировано поверок |
2752
|
| Найдено поверителей | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 2681 (97%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 71 (3 %) |
| Актуальность информации | 21.12.2025 |
Найти результаты поверки
Поверители
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Микроскопы МПБ-2 поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис
метрологических услуг
Другие Микроскопы
Для измерения топографии поверхности, применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Для измерений размеров частиц в суспензиях на основе минеральных или синтетических масел.
Для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования.
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
48091-11
JEM-2100
Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями
Фирма "JEOL Ltd.", ЯПОНИЯ
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий м...