Микроскоп сканирующий зондовый MultiMode V
| Номер в ГРСИ РФ: | 46349-10 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Veeco Instruments Inc.", США |
|
46349-10: Описание типа
2010-46349-10.pdf
|
Скачать | 109.2 КБ |
Для измерения топографии поверхности, применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 46349-10 | ||||||
| Наименование | Микроскоп сканирующий зондовый | ||||||
| Модель | MultiMode V | ||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | 6fde1907-5ee0-7ba6-313c-854e8a8e2b5b | ||||||
| Испытания |
|
||||||
| Год регистрации | 2010 | ||||||
| Общие данные | |
|---|---|
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2010 |
| Страна-производитель | США |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИР |
| Адрес центра | 420088, г.Казань, ул.2-я Азинская, 7а |
| Руководитель центра | Иванов Валерий Павлович |
| Телефон | (8*843*2) 72-70-62 |
| Факс | 72-00-32 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 41994 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | 03д5 от 29.07.10 п.178 |
Производитель / Заявитель
Фирма "VEECO", СОЕДИНЕННЫЕ ШТАТЫ
США
Terminal Drive Plainview, NY 11803 тел. (516) 677-0200 факс (516)714-1200, 70 Olde Canal Drive Lowell, MA 01851 тел. (978) 937-3800 факс(978)937-9915
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | ГОСТ Р 8.630-07 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Найдено поверителей | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 5 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0 %) |
| Актуальность информации | 14.12.2025 |
Поверители
Скачать
|
46349-10: Описание типа
2010-46349-10.pdf
|
Скачать | 109.2 КБ |
Описание типа
Назначение
Микроскоп сканирующий зондовый MultiMode V (далее - микроскоп), предназначен для измерения топографии поверхности.
Микроскоп применяется в научных исследованиях, в нанотехнологии, в лабораториях научно-исследовательских и учебных организаций.
Описание
Микроскоп представляет собой автоматизированную многофункциональную измерительную систему.
Принцип действия микроскопа основан на измерении топографии поверхности методом сканирующей зондовой микроскопии.
В состав микроскопа входит микроскопа MuiltiMode V, контроллер, вспомогательные микроскопы и персональный компьютер.
Управление процессом измерений осуществляется от контроллера и персонального компьютера с помощью программного обеспечения. Управляющие сигналы от контроллера поступают в измерительную головку. Управление контроллером осуществляется с помощью компьютерного программного обеспечения. При помощи программного обеспечения осуществляется настройка прибора, оптимизация его параметров, управление режимами работы, выполнение сканирования, обработка результатов измерений и их хранение.
Конструктивно микроскоп выполнен в виде настольных приборов с отдельно устанавливаемым компьютером.
Технические характеристики
Условия эксплуатации микроскопа:
|
- температура окружающей среды, °C - относительная влажность при 25 °C, % - атмосферное давление, кПа Напряжение: |
от плюс 10 до плюс 35; от 30 до 80; от 84 до 106,7. |
|
- от сети переменного тока, В - частота питающей сети, Гц - потребляемая мощность от источника питания, ВА, не более Режим работы Диапазон измерений, нм Пределы допускаемой абсолютной погрешности микроскопа, нм Габаритные размеры микроскопа, не более, мм Масса, не более, кг |
220 22-зз; 50± 1; 3000. периодический, от 1 до 1000 ±0,5 200x200x350 3 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится на титульный лист руководства по эксплуатации.
Комплектность
Микроскоп состоит из следующих основных частей:
|
- микроскопа MuiltiMode V |
1 шт. |
|
- контроллера Nanoscope V |
1 шт. |
|
- вспомогательного микроскопа 300х |
1 шт. |
|
- вспомогательного микроскопа 45х |
1 шт. |
|
- персонального компьютера |
1 шт. |
Поверка
Поверка микроскопа производится в соответствии с документом ГОСТ Р 8.630-2007 «Государственная система обеспечения единства измерений. Микроскопы сканирующие зондовые атомно-силовые измерительные. Методика поверки».
Межповерочный интервал -1 год.
Нормативные документы
Техническая документация фирмы VEECO (США)
Заключение
Тип микроскопа сканирующего зондового MultiMode V утвержден с техническими и метрологическими характеристиками, приведенными в настоящем описании типа, метрологически обеспечен при выпуске из производства и эксплуатации согласно государственной поверочной схеме.
Другие Микроскопы
