Дифрактометры рентгеновские Empyrean
| Номер в ГРСИ РФ: | 46373-11 |
|---|---|
| Категория: | Дифрактометры |
| Производитель / заявитель: | Фирма "PANalytical B.V.", Нидерланды |
| Поставщик: |
Нет данных
Являетесь поставщиком? Разместите свои контакты в этом блоке! Подробнее в разделе Реклама
|
Дифрактометры рентгеновские Empyrean поверка на: www.ktopoverit.ru
Онлайн-сервис метрологических услуг
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, дифрагированного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Скачать
| 46373-11: Описание типа СИ | Скачать | 599.8 КБ | |
| Свидетельство об утверждении типа СИ | Открыть | ... |
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 46373-11 |
| Наименование | Дифрактометры рентгеновские |
| Модель | Empyrean |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 31.01 |
| Год регистрации | 2011 |
| Методика поверки / информация о поверке | МП 242-1085-2010 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Страна-производитель | Нидерланды |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМ |
| Адрес центра | 198005, г.С.-Петербург, Московский пр., 19 |
| Руководитель центра | Ханов Николай Иванович |
| Телефон | (8*812) 251-76-01 |
| Факс | 113-01-14 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | 14.02.2016 |
| Номер сертификата | 42137 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | С |
| Дата протокола | Приказ 618 от 14.02.11 п.09 |
Производитель / Заявитель
Фирма "PANalytical B.V.", Нидерланды
Нидерланды
Lelyweg 1, 7602 EA Almelo, The Netherlands, тел. 31 546 834 455, факс 31 546 834 498, E-mail: info@panalitical.com
Другие Дифрактометры
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для измерения интенсивности и углов дифракции рентгеновского излучения, рассеянного на кристаллическом объекте при решении задач рентгенодифракционного и рентгеноструктурного анализа материалов.
Для измерения угловой зависимости интенсивности отражённого от вещества излучения для последующего вычисления значений параметров кристаллической решетки и оценки качественного фазового состава с использованием баз кристаллографических данных.
Для регистрации дифракционных максимумов, измерения углов 2? и анализа дифракционных картин, получаемых в результате дифракции рентгеновских лучей на узлах кристаллической решетки. Основными задачами являются качественный и количественный фазовый ана...
Дифрактометры рентгеновские монокристальные D8 QUEST предназначены для измерения параметров структур монокристаллов с заданными свойствами, определения формы и структуры элементарной ячейки кристаллов.