46918-11: СММ-2000 Микроскопы сканирующие зондовые - Производители, поставщики и поверители

Микроскопы сканирующие зондовые СММ-2000

Номер в ГРСИ РФ: 46918-11
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ОАО "Завод Протон-МИЭТ", г.Москва
Скачать
46918-11: Описание типа СИ Скачать 565.7 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...
Нет данных о поставщике
Микроскопы сканирующие зондовые СММ-2000 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 46918-11
Наименование Микроскопы сканирующие зондовые
Модель СММ-2000
Технические условия на выпуск ТУ 4431-002-70281271-2011
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2011
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата 06.06.2016
Номер сертификата 42785
Тип сертификата (C - серия/E - партия) С
Дата протокола Приказ 2604 от 06.06.11 п.02
Производитель / Заявитель

ОАО "Завод Протон-МИЭТ", г.Москва

 Россия 

124498, Зеленоград, пр-д 4806, д.5, стр.20 Тел/факс: 7 (499) 720-85-31, E-mail: logi@miee.ru

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП 46918-11
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Актуальность информации 03.11.2024

Поверители

Скачать

46918-11: Описание типа СИ Скачать 565.7 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Описание типа

Назначение

Микроскопы сканирующие зондовые «СММ-2000» предназначены для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования.

Описание

Микроскопы сканирующие зондовые «СММ-2000» (рисунок 1), далее микроскопы, представляют собой стационарную измерительную систему и состоят из трех блоков: измерительной головки, блока управления и блока питания. Считывание информации осуществляется с помощью компьютера, который не входит в комплект поставки микроскопа.

Микроскоп «СММ-2000» обеспечивает работу как в режиме сканирующего туннельного микроскопа (СТМ), так и атомно-силового микроскопа (АСМ) с использованием различных методик зондовой микроскопии.

Принцип действия СТМ основан на квантовом эффекте туннелирования электронов через узкий потенциальный барьер между исследуемой проводящей поверхностью образца и острием микрозонда. Детектируя туннельный ток, протекающий при постоянном электрическом смещении между микрозондом и образцом, получают информацию о топографии проводящей поверхности в атомном масштабе. При работе в режиме АСМ осуществляется измерение силы, действующей на острие микрозонда со стороны исследуемой поверхности, как проводящих, так и диэлектрических сред. Поддерживая с помощью обратной связи постоянной силу взаимодействия между микрозондом и поверхностью образца, регистрируют положение острия микрозонда, что позволяет получить трехмерное изображение топографии поверхности.

Микроскопы, работая в режимах сканирующего атомно-силового или сканирующего туннельного микроскопов, позволяют дополнительно воздействовать зондом на поверхность и снимать дополнительные сигналы взаимодействия зонда и поверхности, в том числе за счет подключения оператором различных внешних приборов, отражая при этом не только геометрические, но и физические параметры поверхности объекта.

В состав микроскопов входит специализированное программное обеспечение, идентификационные данные которого приведены ниже.

Наименование программного обеспечения

Идентификационное наименование программного обеспечения

Номер версии программ-много обеспечения

Цифровой     идентификатор

программного обеспечения (контрольная сумма)

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программ-много обеспечения

SMM2000

SMM2000

2.2

da24a56cc3102021261297968dc

b1244 *Metrology.dll

алгоритм

MD5

Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с МИ 3286-2010 соответствует уровню «С». Блок управления и блок питания микроскопа защищены от несанкционированного доступа за счет опломбирования крышек их корпусов.

Рисунок 1 - Микроскоп сканирующий зондовый «СММ-2000», общий вид

Рисунок 2 - Микроскоп сканирующий зондовый «СММ-2000», измерительная головка, вид снизу; указаны места нанесения знака утверждения типа и поверительного клейма

Технические характеристики

Диапазон измерений по осям X и Y, мкм, не менее

0,0003 - 20

Диапазон измерений по оси Z, мкм, не менее

0,0002 - 2

Предел допускаемой погрешности измерений линейных размеров по осям X, Y и Z

10 нм ± 10 % измеряемого размера

Максимальные габариты исследуемого образца (длина х ширина х толщина), мм

30 х 30 х 15

Максимальная масса исследуемого образца, г

200

Габаритные размеры, мм, не более: измерительная головка блок управления интерфейсная плата блок питания

200x120x80 160x100x50 120x120x20 80x80x80

Масса, кг, не более: измерительная головка блок управления интерфейсная плата блок питания

3 0,5 0,2 0,5

Напряжение питания переменного тока, В

200 - 240

Потребляемая мощность, В^А, не более

3

Рабочие условия: температура окружающего воздуха 20±2 °С.

Знак утверждения типа

Знак утверждения типа наносится на корпус блока измерительной головки микроскопа снизу методом наклейки (рисунок 2) и на титульный лист паспорта методом печати.

Комплектность

Измерительная головка

1 шт.

Блок управления

1 шт.

Блок питания

1 шт.

Интерфейсная плата

1 шт.

Соединительные кабели

3 шт.

Программное обеспечение для управления и обработки данньк

1 шт.

Мера рельефная «Кварц-ХУ1400А/90нм»

1 шт.

Набор ЗИП

1 шт.

Паспорт

1 экз.

Методика поверки

1 экз.

Поверка

осуществляется по документу «Микроскопы сканирующие зондовые «СММ-2000».

Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в 2011 году.

Основные средства поверки:

М^__

Номинальное значение шага периодической структуры меры вдоль двуx ортогональныx направлений в плоскости XOY, мкм

1,400

Пределы допускаемой относительной погрешности шага периодической структуры, %

± 2

Номинальное значение высоты выступов периодической структуры, мкм

0,090

Пределы допускаемой относительной погрешности высоты выступов периодической структуры, %

± 5

Сведения о методах измерений

«Микроскопы сканирующие зондовые «СММ-2000». Паспорт», раздел 8.

Нормативные документы

Микроскопы сканирующие зондовые «СММ-2000». Технические условия ТУ 4431002-70281271-2011

Рекомендации к применению

Применяются при осуществлении деятельности в области здравоохранения; осуществлении ветеринарной деятельности; осуществлении деятельности в области охраны окружающей среды; выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям.

Другие Микроскопы

Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий м...
Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...