Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX
| Номер в ГРСИ РФ: | 48090-11 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Jeol", Япония |
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 48090-11 | ||||||
| Наименование | Микроскоп электронный просвечивающий | ||||||
| Модель | JEM-100CX | ||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | 3b40bde0-6739-2fb3-babc-7fbf17d5ba46 | ||||||
| Испытания |
|
||||||
| Год регистрации | 2011 | ||||||
| Общие данные | |
|---|---|
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2011 |
| Страна-производитель | Япония |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМС |
| Адрес центра | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
| Руководитель центра | Кононогов Сергей Алексеевич |
| Телефон | (8*095) 437-55-77 |
| Факс | 437-56-66 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 44261 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | Приказ 6279 от 31.10.11 п.01 |
Производитель / Заявитель
Фирма "JEOL Ltd.", ЯПОНИЯ
Япония
1-2, Musashino 3-chome Akishima Tokyo 196-8558, Japan
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП 48090-11 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Актуальность информации | 14.12.2025 |
Поверители
Скачать
|
48090-11: Описание типа
2011-48090-11.pdf
|
Скачать | 93.3 КБ | |
| Свидетельство об утверждении типа СИ | Открыть | ... |
Описание типа
Назначение
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX (далее микроскоп) предназначен для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
Описание
Принцип действия микроскопа основан на формировании пучка электронов с энергией до 100 кэВ для непосредственного просвечивания объекта измерений. В качестве объектов, прозрачных для электронов с такой энергией, могут исследоваться ультратонкие срезы, напыленные в вакууме реплики, нанесенные на прозрачную для электронов подложку наночастицы и др. Система магнитных линз микроскопа формирует электронно-микроскопическое изображение объекта проходящими электронами. Контраст на изображении, т.е. его неравномерная освещенность, возникает из-за того, что рассеяние проходящих электронов зависит от массы атомов просвечиваемого вещества, а также, в случае просвечивания кристаллического вещества, и от ориентации кристаллографических осей относительно электронного луча микроскопа. Соответствующие неоднородности объекта становятся видимыми на электронномикроскопическом изображении благодаря тому, что электроны, рассеянные на большие углы, задерживаются апертурной диафрагмой и не участвуют в формировании окончательного изображения.
Конструкция микроскопа включает следующие блоки: основной блок - стенд с колонной, блок вакуумных насосов и блок питания. Микроскоп оснащен держателем препаратов на 6 образцов. Фиксация получаемых электронограмм (электронномикроскопиеских изображений) производится на фотопленку или фотопластинки. Для предварительного наблюдения фиксируемого фотографическим методом изображения используется специальный экран, покрытый люминофором.
Микроскоп применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
Рис. 1. Общий вид микроскопа электронного просвечивающего JEM-100CX
Технические характеристики
Таблица 1
|
Диапазон измерений геометрических расстояний, мкм |
4-10’4..100 |
|
Пределы допускаемой погрешности измерения геометрических расстояний при ускоряющем напряжении 100 кВ*: в диапазоне (1..100) мкм при измерении абсолютных размеров, % в диапазоне (0,05..1) мкм при измерении абсолютных размеров, % в диапазоне (4-10’4.0,05) мкм при измерении абсолютных размеров (L-размер кадра, выраженный в нанометрах), нм |
± 3% ± 8% ± (2+0,08L) |
|
Диапазон регулировки увеличения, крат |
от 90 до 800 000 |
|
Значения ускоряющего напряжения, кВ |
20, 40, 60, 80, 100 |
|
Номинальное напряжение сети питания (однофазной), В |
230+30 |
|
Максимальная потребляемая мощность, кВ •А |
4,5 |
|
Габаритные размеры основных блоков не более, мм стенд с колонной, блок питания блок насосов Общий размер в собранном состоянии, мм |
1980x1420x2450 655x475x815 660x300x495 2800x3000x2550 |
|
Условия эксплуатации: - температура окружающего воздуха, ° C - относительная влажность воздуха, % |
(20 ± 5) (40 ± 20) |
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.
Комплектность
1. Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX - 1экз.;
2. Комплект ЗИП и расходные материалы - 1 компл.;
3. Руководство по эксплуатации - 1 шт.;
4. Методика поверки - 1 экз.
Поверка
осуществляется по документу МП 48090-11 «Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в октябре 2011 г.
Основными средствами поверки являются:
Мера длины рельефная МПУ278нм с характеристиками, приведенными в таблице 2. Таблица 2
|
Наименование |
Значение |
|
Номинальное значение шага периодической структуры меры, мкм |
0,278 |
|
Предел допускаемой основной погрешности шага периодической структуры, мкм |
± 0,002 |
|
Масса меры не более, г |
0,1 |
|
Габаритный размер меры (Диаметр х Толщина), мм |
3,0 х 0,3 |
|
Размер рабочей области меры (Диаметр), мм |
1,0 |
Сведения о методах измерений
Сведения отсутствуют
Нормативные документы
1. Техническая документация фирмы-изготовителя.
Рекомендации к применению
- при выполнении работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям
Другие Микроскопы
