Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX

Номер в ГРСИ РФ: 48090-11
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Jeol", Япония
Нужна поверка? Найдите поверителя на сайте www.ktopoverit.ru

Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).

Скачать

48090-11: Описание типа СИ Скачать 865.2 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 48090-11
Наименование Микроскоп электронный просвечивающий
Модель JEM-100CX
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2011
Методика поверки / информация о поверке МП 48090-11
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Япония 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 44261
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола Приказ 6279 от 31.10.11 п.01
Производитель / Заявитель

Фирма "JEOL Ltd.", Япония

 Япония 

1-2, Musashino 3-chome Akishima Tokyo 196-8558, Japan

Другие Микроскопы

Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий м...
Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
48289-11
WITec alpha 300 Микроскоп ближнепольный
Фирма "WITec GmbH", Германия
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.