Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-Д

Номер в ГРСИ РФ: 48172-11
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва
Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-Д поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.

Скачать

48172-11: Описание типа СИ Скачать 472.3 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 48172-11
Наименование Микроскопы интерференционные автоматизированные
Модель МИА-Д
Технические условия на выпуск тех.документация ФГУП
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2011
Методика поверки / информация о поверке МП 48172-11
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Россия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 44402
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола Приказ 6295 от 08.11.11 п.07
Производитель / Заявитель

ФГУП "ВНИИОФИ", г.Москва

 Россия 

119361, ул.Озерная, 46, тел./факс (495) 437-29-92, 437-32-01, 437-33-11, тел/факс 437-31-47 (103031, ул.Рождественка, 27) www.vniiofi.ru, E-mail: vniiofi@vniiofi.ru

Другие Микроскопы

Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне.
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической структуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий м...
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
48289-11
WITec alpha 300 Микроскоп ближнепольный
Фирма "WITec GmbH", Германия
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.