Микроскоп ближнепольный WITec alpha 300

Номер в ГРСИ РФ: 48289-11
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "WITec GmbH", Германия
Микроскоп ближнепольный WITec alpha 300 поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.

Скачать

48289-11: Описание типа СИ Скачать 471.4 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 48289-11
Наименование Микроскоп ближнепольный
Модель WITec alpha 300
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2011
Методика поверки / информация о поверке МП 48289-11
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 2 года
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 44508
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола Приказ 6335 от 25.11.11 п.23
Производитель / Заявитель

Фирма "WITec GmbH", Германия

 Германия 

Цинглерштрассе 70 89077 Ульм Тел. +49 731 - 3788 0070, Факс +49 731 - 3788 0079, E-mail: info@russland-experten.com

Другие Микроскопы

48291-11
VCM-200A Микроскоп конфокальный сканирующий
Фирма "Veeco Instruments", Великобритания
Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
48389-11
AxioImager m2M Микроскоп оптический
Фирма "Carl Zeiss MicroImaging GmbH", Германия
Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем.
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.