48291-11: VCM-200A Микроскоп конфокальный сканирующий - Производители, поставщики и поверители

Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200A

Номер в ГРСИ РФ: 48291-11
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Veeco Instruments Inc.", США
Скачать
48291-11: Описание типа СИ Скачать 517.4 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...
Нет данных о поставщике
Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200A поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 48291-11
Наименование Микроскоп конфокальный сканирующий
Модель VCM-200A
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2011
Страна-производитель  Великобритания 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ВНИИМС
Адрес центра 119361, г.Москва, Озерная ул., 46
Руководитель центра Кононогов Сергей Алексеевич
Телефон (8*095) 437-55-77
Факс 437-56-66
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 44510
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола Приказ 6335 от 25.11.11 п.25
Производитель / Заявитель

Фирма "Veeco Instruments", Великобритания

 Великобритания 

Плейнвью, Нью-Йорк 11803, Тел. (516) 677-0200, Факс (516) 714-1200, E-mail: info@veeco.com

Поверка

Методика поверки / информация о поверке МП 48291-11
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Зарегистрировано поверок 3
Найдено поверителей 3
Успешных поверок (СИ пригодно) 3 (100%)
Неуспешных поверок (СИ непригодно) 0 (0%)
Актуальность информации 17.11.2024

Поверители

Скачать

48291-11: Описание типа СИ Скачать 517.4 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Описание типа

Назначение

Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-2OOA (далее микроскоп) предназначен для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.

Описание

Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-2OOA представляет собой конфокальный микроскоп тандемного типа. Конфокальная микроскопия - вид оптической микроскопии, в которой изображение объекта формируется послойно за счет сканирования и пространственной фильтрации прошедшего, отраженного или испускаемого объектом излучения. Использование пространственной фильтрации позволяет увеличить разрешающую способность и контраст по сравнению с обычным световым микроскопом.

В составе микроскопа имеется конфокальный сканирующий модуль позволяющий переносить изображения точек образца находящихся в фокальной плоскости объектива, отсекая паразитный сигнал от остальных точек образца. Таким образом изменяя расстояние от объектива до образца производится получение различных сечений образца вдоль вертикальной оси с последующим построением трехмерного изображения исследуемого объекта путем объединения полученных сечений.

Рис. 1 - Внешний вид микроскопа VCM-2OOA

Программное обеспечение

Микроскоп оснащен программным обеспечением VCM-2OOA версии v3.

Весь исходный код и вычислительный алгоритм VCM-2OOA расположены в заранее скомпилированных бинарных файлах, которые не могут быть модифицированы. VCM-2OOA задает пользовательские уровни. Пользователи административного уровня блокируют редактирование для пользователей низших уровней и не позволяют удалять, создавать новые элементы или редактировать отчеты.

Идентификационные данные программного обеспечения приведены в таблице

Наименование программного обеспечения

Идентификационное наименование программного обеспечения

Номер версии (идентификационный номер) программного обеспечения

Цифровой идентификатор программного обеспечения (контрольная сумма исполняемого кода)

Алгоритм вычисления цифрового идентификатора программного обеспечения

VCM-200A

VCM-200A Hypernated-System (R) HS200

v3

D2263A1FCEF3 E920E75652585 C29911B

MD5

Программное обеспечение является неизменным. Средства для программирования или изменения метрологически значимых функций отсутствуют.

Защита программного обеспечения микроскопа соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.

Технические характеристики

Наименование параметра

Значение параметра

Линейное поле зрения в плоскости X и Y , мкм

Объектив 10х      773х587

Объектив 20х      336х292

Объектив 50х      146х117

Объектив 100х     72х58

Диапазон измерений по оси Z, мкм

Свыше 0 до 6

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по осям X и Y, мкм

±0,2

Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров по оси Z , мкм

±0,07

Масса, кг

50

Питание, В

240 ± 5

Знак утверждения типа

наносится на корпус прибора методом наклейки.

Комплектность

Наименование

Кол-во

Примечание

Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-2OOA

1 шт.

Цифровая ПЗС-камера Pixelink

1 шт

Компьютер

2 шт

Руководство по эксплуатации

1 экз.

Методика поверки

1 экз

Поверка

осуществляется в соответствии с документом по поверке МП 48291-11 «Микроскоп конфокальный сканирующий VCM 200A. Методика поверки», разработанным и утвержденным ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в сентябре 2011 г. и включенной в комплект поставки.

Основное поверочное оборудование: Мера ширины и периода МШПС-2.0К 7, Период шаговой структуры: 2000±10 нм.

Сведения о методах измерений

Метод измерений изложен в документе «Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200А. Руководство по эксплуатации» в разделе 2.4.

Нормативные документы

1. ГОСТ 8.296-78. ГСИ. Государственная поверочная схема для средств измерений параметров шероховатости Rmax, Rz и Ra в диапазоне 0,025.. .3000 мкм.

Рекомендации к применению

Выполнение работ по оценке соответствия промышленной продукции и продукции других видов, а также иных объектов установленным законодательством Российской Федерации обязательным требованиям

Другие Микроскопы

Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
48389-11
AxioImager m2M Микроскоп оптический
Фирма "Carl Zeiss MicroImaging GmbH", Германия
Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем.
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку)....
Микроскопы измерительные оптические OLYMPUS STM6, STM6-LM (далее - микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей.
50159-12
Veeco Dimension 3100 Микроскоп атомно-силовой
Фирма "Veeco Instruments Inc.", США
Микроскоп атомно-силовой Veeco Dimension 3100 (далее по тексту - микроскоп) предназначен для измерения линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.