Микроскоп оптический AxioImager m2M

Номер в ГРСИ РФ: 48389-11
Категория: Микроскопы
Производитель / заявитель: Фирма "Carl Zeiss Industrielle Messtechnik GmbH", Германия
Микроскоп оптический AxioImager m2M поверка на: www.ktopoverit.ru
КтоПоверит
Онлайн-сервис метрологических услуг

Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем.

Скачать

48389-11: Описание типа СИ Скачать 481.4 КБ
Свидетельство об утверждении типа СИ Открыть ...

Информация по Госреестру

Основные данные
Номер по Госреестру 48389-11
Наименование Микроскоп оптический
Модель AxioImager m2M
Технические условия на выпуск тех.документация фирмы
Класс СИ 27.01
Год регистрации 2011
Методика поверки / информация о поверке МП 48389-11
Межповерочный интервал / Периодичность поверки 1 год
Страна-производитель  Германия 
Центр сертификации СИ
Наименование центра ГЦИ СИ ОАО "НИЦПВ"
Адрес центра 119421, г.Москва, ул.Новаторов, 40, корп.1
Руководитель центра Тодуа Павел Андреевич
Телефон (8*095) 935-97-77
Факс 132-60-13
Информация о сертификате
Срок действия сертификата . .
Номер сертификата 44656
Тип сертификата (C - серия/E - партия) Е
Дата протокола Приказ 6354 от 06.12.11 п.09
Производитель / Заявитель

Фирма "Carl Zeiss MicroImaging GmbH", Германия

 Германия 

37030, г. Готтинген, Германия

Другие Микроскопы

Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
48291-11
VCM-200A Микроскоп конфокальный сканирующий
Фирма "Veeco Instruments", Великобритания
Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве.
48289-11
WITec alpha 300 Микроскоп ближнепольный
Фирма "WITec GmbH", Германия
Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
48284-11
НаноСкан-3Di Микроскоп сканирующий зондовый
ФГУ "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов", г.Троицк
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фу...
Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне.