Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300
| Номер в ГРСИ РФ: | 48831-12 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "FEI Company", США |
| 48831-12: Описание типа СИ | Скачать | 142.9 КБ |
Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку). Применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |
|---|---|
| Номер по Госреестру | 48831-12 |
| Наименование | Микроскоп электронный просвечивающий |
| Модель | TITAN 80-300 |
| Технические условия на выпуск | тех.документация фирмы |
| Класс СИ | 27.01 |
| Год регистрации | 2012 |
| Страна-производитель | Нидерланды |
| Центр сертификации СИ | |
| Наименование центра | ГЦИ СИ ВНИИМС |
| Адрес центра | 119361, г.Москва, Озерная ул., 46 |
| Руководитель центра | Кононогов Сергей Алексеевич |
| Телефон | (8*095) 437-55-77 |
| Факс | 437-56-66 |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | . . |
| Номер сертификата | 45186 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | Е |
| Дата протокола | Приказ 23 от 20.01.12 п.04 |
Производитель / Заявитель
Фирма "FEI Ltd.", Нидерланды
Нидерланды
Achtseweg Noord 5, Bldg 5651 GG Eindhoven
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | МП 48831-12 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки | 1 год |
| Актуальность информации | 22.12.2024 |
Поверители
Скачать
| 48831-12: Описание типа СИ | Скачать | 142.9 КБ |
Описание типа
Назначение
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 (далее микроскоп) предназначен для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и суспензий микрочастиц (вплоть до наноразмерных), нанесенных на полимерную пленку-подложку).
Микроскоп применяется в материаловедении, биологических, медицинских исследованиях, а также при оценке биобезопасности продукции наноиндустрии и нанотехнологий.
Описание
Принцип действия микроскопа основан на получении увеличенного изображения объекта с помощью пучка электронов, просвечивающих исследуемый объект. Так как объект должен быть прозрачен для электронов, то исследоваться могут ультратонкие срезы, напыленные в вакууме реплики, нанесенные на прозрачную для электронов подложку наночастицы. Система магнитных линз микроскопа управляет электронным пучком (аналогично работе оптических линз в оптических микроскопах) и формирует электронно-микроскопическое изображение объекта на ПЗС-матрице или экране, покрытом слоем люминофора. Изображение формируется из-за того, что рассеяние проходящих электронов зависит от массы атомов просвечиваемого вещества, а также (в случае просвечивания кристаллического вещества) и от ориентации кристаллографических осей относительно электронного пучка микроскопа.
Методы электронной дифракции реализуются путем регулирования токов магнитных линз и введения в колонну микроскопа селекторных диафрагм. Эти методы дают информацию о наличии или отсутствии кристаллической структуры у выбранного микроучастка образца, о типе кристаллической решетки, а также позволяют рассчитать межплоскостные расстояния в микрокристаллах путем сравнения полученных дифракционных картин (электронограмм) с электронограммами тонкопленочных образцов с известным составом и кристаллической структурой.
Дополнительные аналитические модули микроскопа - энергодисперсионый спектрометр характеристического рентгеновского излучения и спектрометр характеристических потерь энергии электронов - позволяют реализовать методы анализа локального элементного состава исследуемых образцов.
Рис. 1. Общий вид микроскопа электронного просвечивающего TITAN 80-300
В состав микроскопа входит специализированное программное обеспечение, идентификационные данные которого приведены ниже.
|
Наименование программного обеспечения |
Идентификационное наименование про граммного обеспечения |
№ве рсии ПО |
Цифровой идентификатор про граммного обеспечения (контрольная сумма) |
Алгоритм вычисления идентификатора ПО |
|
Пакет управления фотокамерами и обработки изображений Digital Micrograph |
EditingTool.dll Numerical.dll DMUtility.gtk |
3.8.2 |
c359a09fa92cca774b7e682b85c892eb 49a6e0b8da6060a8852d41d03fa40255 5350a61e81fb25ba291b5217a49d0e47 |
Программа md5sum |
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений в соответствии с МИ 3286-2010 соответствует уровню «С».
Технические характеристики
Таблица 1
|
Диапазон измерения геометрических расстояний, мкм |
4-10—4..100 |
|
Пределы допускаемой погрешности измерения геометрических расстояний при ускоряющем напряжении 200 кВ*: в диапазоне (1..100) мкм при измерении абсолютных размеров, % в диапазоне (0,05..1) мкм при измерении абсолютных размеров, % в диапазоне (4-10-4.0,05) мкм при измерении абсолютных размеров (L-размер кадра, выраженный в нанометрах), нм |
± 3% ± 7% ± (2+0,07L) |
|
Диапазон регулировки увеличения, крат |
от 50 до 1 500 000 |
|
Значения ускоряющего напряжения, кВ |
80..300 |
|
Номинальное напряжение сети питания (трехфазной), В |
38032 |
|
Максимальная потребляемая мощность, кВ •А |
10 |
|
Габаритные размеры основных блоков не более, мм консоль микроскопа + колонна стойка ТЕМ/Асс стойка питания микроскопа генератор высокого напряжения система охлаждения |
1430x2140x235 700x800x1800 1200x600x1300 880x760x1990 680x660x860 |
|
Условия эксплуатации: - температура окружающего воздуха, ° C - относительная влажность воздуха, % |
(20 ± 0,2) (65 ± 15) |
Знак утверждения типа
наносится на титульный лист руководства по эксплуатации методом печати.
Комплектность
1. Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 - 1экз.;
2. Комплект ЗИП и расходные материалы - 1 компл.;
3. Руководство по эксплуатации - 1 шт.;
4. Методика поверки - 1 экз.
Поверка осуществляется по документу МП 48831-12 «Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300. Методика поверки», утвержденному ГЦИ СИ ФГУП «ВНИИМС» в октябре 2011 года.
Основными средствами поверки являются:
Мера длины рельефная МПУ278нм (Госреестр №47524-11)
Сведения о методах измерений
Сведения отсутствуют
Нормативные документы
1. Техническая документация фиры-изготовителя
Рекомендации к применению
Другие Микроскопы
