Микроскоп электронный растровый S-4800
| Номер в ГРСИ РФ: | 50413-12 |
|---|---|
| Категория: | Микроскопы |
| Производитель / заявитель: | Фирма "Hitachi", Япония |
Микроскоп электронный растровый S-4800 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.
Информация по Госреестру
| Основные данные | |||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Номер по Госреестру | 50413-12 | ||||||
| Наименование | Микроскоп электронный растровый | ||||||
| Модель | S-4800 | ||||||
| Характер производства | Единичное | ||||||
| Идентификатор записи ФИФ ОЕИ | bc022011-8fd4-739f-2fa2-4bb080bb48c4 | ||||||
| Испытания |
|
||||||
| Год регистрации | 2012 | ||||||
| Общие данные | |
|---|---|
| Год регистрации | 2012 |
| Страна-производитель | Япония |
| Информация о сертификате | |
| Срок действия сертификата | .. |
| Номер сертификата | 47224 |
| Тип сертификата (C - серия/E - партия) | E |
| Дата протокола | Приказ 486 п. 17 от 09.07.2012 |
Производитель / Заявитель
Фирма "Hitachi", ЯПОНИЯ
Япония
Поверка
| Методика поверки / информация о поверке | ГОСТ Р 8.631-2007 |
| Межповерочный интервал / Периодичность поверки |
1 год
|
| Зарегистрировано поверок | |
| Найдено поверителей | |
| Успешных поверок (СИ пригодно) | 7 (100%) |
| Неуспешных поверок (СИ непригодно) | 0 (0 %) |
| Актуальность информации | 21.12.2025 |
Поверители
Скачать
|
50413-12: Описание типа
2012-50413-12.pdf
|
Скачать | 143.9 КБ | |
| Свидетельство об утверждении типа СИ | Открыть | ... |
Описание типа
Назначение
Микроскоп электронный растровый S-4800 (далее - микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур.
Описание
Микроскоп представляет собой стационарную автоматизированную многофункциональную измерительную систему и состоит из электронно-оптической системы (колонны), камеры объектов с механизмом перемещения объектов, двух детекторов вторичных электронов, детектора отраженных электронов, детектора прошедших электронов (для режима «на-просвет»), вакуумной системы, видеоконтрольного устройства, блока питания.
Принцип получения изображения в микроскопе заключается в модуляции яркости монитора видеоконтрольного устройства сигналами, пропорциональными числу зарегистрированных электронов соответствующим детектором, при сканировании сфокусированного электронного зонда по поверхности объекта. Отношение размера изображения на мониторе к размеру растра на образце определяет увеличение микроскопа.
Микроскоп обеспечивает работу в режимах регистрации вторичных и отраженных электронов и в режиме «напросвет».
При работе микроскопа обеспечиваются безопасные условия труда оператора. При максимальных значениях ускоряющего напряжения и тока зонда мощность эквивалентной дозы рентгеновского излучения в любой доступной точке на расстоянии 10 см от поверхности колонны и камеры объектов микроскопа не превышает 1 мкЗв/ч.
Рис.1. Общий вид микроскопа электронного растрового S-4800
Программное обеспечение
Управление микроскопом осуществляют с помощью встроенного контроллера и внешней ПЭВМ с использованием специализированного программного обеспечения (ПО).
Уровень защиты программного обеспечения от непреднамеренных и преднамеренных изменений соответствует уровню «С» по МИ 3286-2010.
Идентификационные данные программного обеспечения представлены в таблице 1.
Таблица 1.
|
Наименование ПО |
Идентификационное наименование ПО |
Номер версии ПО |
Цифровой идентификатор ПО (контрольная сумма) |
Алгоритм вычисления цифрового идентификатора ПО |
|
Программа управления процессом измерений и обработки результатов измерений |
S-4800 Scanning Electron Micro scope |
03.03 |
0142742361B2079CBF 1B35EBDD7055A166C 855EF41C884D8C8BF 0B3366E85AF4 |
ГОСТ Р 34.11 94 |
Технические характеристики
Метрологические и технические характеристики приведены в Таблице 2.
Таблица 2.
|
Наименование характеристики |
Значение |
|
Эффективный диаметр электронного зонда во вторичных электронах при 15 кВ (образец - кремний), нм, не более |
10 |
|
Диапазон измерений линейных размеров, мкм |
0,05^1000 |
|
Пределы допускаемой относительной погрешности измерений линейных размеров, %: - в диапазоне от 0,05 до 0,1 мкм - в диапазоне от 0,1 до 0,3 мкм - в диапазоне от 0,3 до 1000 мкм |
±10 ±6 ±4 |
|
Напряжение питания от сети переменного тока частотой (50±1) Гц, В |
220+22-33 |
|
Потребляемая мощность, кВА |
4 |
|
Г абаритные размеры (длина х ширина х высота), мм: - стенд с колонной, агрегатом вакуумным, ВКУ - видеоконтрольный блок |
840x966x1660 1000x960x1200 |
|
Масса, кг |
860 |
|
Условия эксплуатации: - температура окружающей среды, °С - относительная влажность воздуха, %, не более - атмосферное давление, кПа |
20 ± 5 60 84^107 |
Знак утверждения типа
Знак утверждения типа наносится в виде наклейки на электронно-оптическую систему (колонну) прибора и титульный лист технической документации фирмы-изготовителя типографским способом.
Комплектность
В комплект микроскопа входят: микроскоп электронный растровый S-4800, комплект ЗИП, расходные материалы, техническая документация фирмы-изготовителя.
Поверка
осуществляется по ГОСТ Р 8.631-2007 «Микроскопы электронные растровые измерительные. Методика поверки».
Средства поверки: мера ширины и периода специальная МШПС-2.0К.
Сведения о методах измерений
Техническое описание «Микроскоп электронный растровый S-4800 фирмы «HITACHI», Япония»
Нормативные документы
Техническое описание «Микроскоп электронный растровый S-4800 фирмы «HI
TACHI», Япония»
Рекомендации к применению
Применяется вне сферы государственного регулирования обеспечения единства измерений.
Другие Микроскопы
